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好多资料啊，谢谢楼主的无私奉献，论坛有你们才精彩！
仅供参考，我们是通过ISO17025认证的实验室，有空可以和楼主交流:handshake[attach]2303[/attach][file url='https://www.kekaoxing.com/club/data/attachment/forum/month_0807/20080713_9c2b1360ea440175ec9exIuLQZDYkcaf.pdf' name='ISO-IEC17025_2005E.pdf' pass=' 大小：271KB']
仅供参考，我们是通过ISO17025认证的实验室，有空可以和楼主交流:handshake
所以失效率正态分布的，就和浴缸曲线没什么关系了？ 是不是浴缸曲线只有服从指数分布时才适用？
BIAS应该是负载吧！
有些可靠性试验，特别是电路方面产品，实验时需要加一定电压负载的。
所有的资料都所产品失效符合所谓“浴缸曲线”，就是两边失效率高，中间失效率低。 但很多可靠性计算是假定失效符合对数正态分布（或者叶绿体兄说的正态分布），这就是说失效率2边小，中间大。 看起来2者有冲突？
问题可能很幼稚，还请大侠指点！谢谢了～～
记得有大侠说Arrhenius方程不能用来计算湿度应力，看过一些标准也说湿度应力还没有一个公认的计算方程。
不过因为是新学，我们先不考虑这些～
不知道楼组的产品是什么。 在光纤光缆及被动光学元器件，一份标准FOTP-3规定了极限温度保持时间与产品质量间的关系。 质量从
好资料，谢谢楼主分享～～
我们的办法是实时监控样品的性能。 不知道你们是什么产品？
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好多资料啊，谢谢楼主的无私奉献，论坛有你们才精彩！
仅供参考，我们是通过ISO17025认证的实验室，有空可以和楼主交流:handshake[attach]2303[/attach][file url='https://www.kekaoxing.com/club/data/attachment/forum/month_0807/20080713_9c2b1360ea440175ec9exIuLQZDYkcaf.pdf' name='ISO-IEC17025_2005E.pdf' pass=' 大小：271KB']
仅供参考，我们是通过ISO17025认证的实验室，有空可以和楼主交流:handshake
所以失效率正态分布的，就和浴缸曲线没什么关系了？
是不是浴缸曲线只有服从指数分布时才适用？
BIAS应该是负载吧！
有些可靠性试验，特别是电路方面产品，实验时需要加一定电压负载的。
所有的资料都所产品失效符合所谓“浴缸曲线”，就是两边失效率高，中间失效率低。
但很多可靠性计算是假定失效符合对数正态分布（或者叶绿体兄说的正态分布），这就是说失效率2边小，中间大。
看起来2者有冲突？
问题可能很幼稚，还请大侠指点！谢谢了～～
记得有大侠说Arrhenius方程不能用来计算湿度应力，看过一些标准也说湿度应力还没有一个公认的计算方程。
不过因为是新学，我们先不考虑这些～
不知道楼组的产品是什么。
在光纤光缆及被动光学元器件，一份标准FOTP-3规定了极限温度保持时间与产品质量间的关系。
质量从
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我们的办法是实时监控样品的性能。
不知道你们是什么产品？