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    求助:85 /85实验标准?

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    向各位求助:一个85/85实验的标准
    JEDECStandardNo.22-A101-B
    有没有大侠对85/85实验熟悉的?可不可以帮助一下我,我就是弄不明白!
    在可靠性领域里:dietemperature、bias是什么意思??

    这个标准不是很熟悉,主要是半导体器件的可靠性测试,我传上来让大家共同讨论一下吧

    22a101b.pdf
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    Lv.1
    标准里面总是提到bias,在这里面,这个bias应该译成什么呢?是偏压吗?还是? 真是头都大了:Q,一般的85/85实验都只是提到温度和湿度,这一个多了bias这一项! 不知道85/85实验还有其他的标准吗?
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    这个bias是变压吧,我看了一下大概内容,这个优点像做IC的试验标准,dietemp失效分析理解为空洞温度
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    dietemp应该是芯片里晶圆的温度,结温有时候就用来表示这个温度。
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    Lv.1
    BIAS应该是负载吧! 有些可靠性试验,特别是电路方面产品,实验时需要加一定电压负载的。
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    BIAS一般翻译为偏压,有恒定偏压和循环偏压两种,加载需要专门的治具! DieTemp应该是指产品表面所在位置的温度,因为环境测试箱体内部温度实际并不全部一致!
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    Lv.6
    任务达人
    BIAS翻譯為偏壓:意思是測試時sample要施加Vcc電壓,例如sample標準偏壓為Vcc3.3試驗時就要施加3.3Vdc的電壓. Dietemp指的是IC內部Die的溫度一般需要使用紅外線溫度感測儀來測試. Tj指的是IC封裝表面溫度 Ta指的是IC所在位置的周圍溫度
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