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谢谢了
好东西，谢了!:victory:
谢谢楼主，你真是个好人！
我没得经验的刚开始接触可靠性试验，哈哈！谢谢楼上的答复！
[quote]原帖由[i]ALT[/i]于2008-8-3002:03发表[url=pid=28158&ptid=3924][/url] 定时截尾测试的间隔; 能解释一下这个的意思吗？我想我能帮你[/quote] 就是我要是能推算出10只样品失效，试验的总时间，然后根据这个总的时间，确定定时取出样品测试的样品，确保失效的样品不能集中在一个时间区域，以保证数据统计的准确性。
定时截尾测试的间隔说白了就是我什么时间该把样品取出来测试，看它失没失效，然后在放进高温箱，再等到什么时候再取出测试。确保失效样品时间不能太集中在一个时间段。
定时截尾的截尾时间如何确定原来都是大家关心的问题！
若允许1次失效，则在90%的置信度下，需要测试的时间为Ttest=A*MTBF(A=0.5*CHIINV(1-0.9,2*2)=3.89) 不明白公式的意思
郁闷，我们写芯片可靠性试验方案时，要写试验的总时间和确定定时截尾测试的间隔，不知道该怎么取，怎么没人帮我啊:'(
有的下不了，郁闷！
很好的资料！谢谢楼主了:victory:
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[quote]原帖由[i]ALT[/i]于2008-8-3002:03发表[url=pid=28158&ptid=3924][/url]
定时截尾测试的间隔;
能解释一下这个的意思吗？我想我能帮你[/quote]
就是我要是能推算出10只样品失效，试验的总时间，然后根据这个总的时间，确定定时取出样品测试的样品，确保失效的样品不能集中在一个时间区域，以保证数据统计的准确性。
定时截尾测试的间隔说白了就是我什么时间该把样品取出来测试，看它失没失效，然后在放进高温箱，再等到什么时候再取出测试。确保失效样品时间不能太集中在一个时间段。
定时截尾的截尾时间如何确定原来都是大家关心的问题！
若允许1次失效，则在90%的置信度下，需要测试的时间为Ttest=A*MTBF(A=0.5*CHIINV(1-0.9,2*2)=3.89)
不明白公式的意思
郁闷，我们写芯片可靠性试验方案时，要写试验的总时间和确定定时截尾测试的间隔，不知道该怎么取，怎么没人帮我啊:'(
有的下不了，郁闷！
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