加速寿命试验中的试验时间和测试周期怎么确定的？求助

标准也是人定的，计算或者总结出来的

什么是截尾测试啊？楼上可否解析一下。

这个检查间隔时间完全由经验来确定。电子类产品大部分会依照浴盆曲线的规则来选取。

这个的确是个有趣的问题,这个由遵循的标准吗?经验的比重要大一点

难道不应该遵循标准的吗~？

参见GB1772-79就可以了。不知哪位高手还有补充。

我也是新手上路
学习中

我没得经验的刚开始接触可靠性试验，哈哈！谢谢楼上的答复！

[quote]原帖由[i]djcuiphysic[/i]于2008-8-3023:07发表[url=pid=28223&ptid=3924][/url]

就是我要是能推算出10只样品失效，试验的总时间，然后根据这个总的时间，确定定时取出样品测试的样品，确保失效的样品不能集中在一个时间区域，以保证数据统计的准确性。

定时截尾测试的间隔说白了就是我什么时…[/quote]

原来你想说的是intervalcensoring.这个interval的长度选择一般是个经验选择。可以采取随着测试进行，逐渐缩短interval的办法

[quote]原帖由[i]ALT[/i]于2008-8-3002:03发表[url=pid=28158&ptid=3924][/url]
定时截尾测试的间隔;
能解释一下这个的意思吗？我想我能帮你[/quote]
就是我要是能推算出10只样品失效，试验的总时间，然后根据这个总的时间，确定定时取出样品测试的样品，确保失效的样品不能集中在一个时间区域，以保证数据统计的准确性。

定时截尾测试的间隔说白了就是我什么时间该把样品取出来测试，看它失没失效，然后在放进高温箱，再等到什么时候再取出测试。确保失效样品时间不能太集中在一个时间段。

定时截尾测试的间隔;
能解释一下这个的意思吗？我想我能帮你

找一下标准来参考一下吧,百度或是谷歌一下啦

郁闷，我们写芯片可靠性试验方案时，要写试验的总时间和确定定时截尾测试的间隔，不知道该怎么取，怎么没人帮我啊:'(