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    求助 VDMOS经过加速寿命试验后漏源电流退化的机理是什么啊？

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    • zhangrui0210
    zhangrui0210
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    VDMOS经过加速寿命试验后漏源电流退化的机理是什么啊？

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    来源：中国可靠性网 原文链接：https://www.kekaoxing.com/3956.html
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    拉黑14年前 电脑端阅读： 2.4k 1楼 回复
    zhangrui0210
    zhangrui0210
    Lv.1
    高温存储试验能否恢复器件特性
    打赏 拉黑举报14年前 电脑端 回复 (0)
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    aries
    aries
    Lv.4
    是否和参杂载流子的渗透有关 ps:呢这个问题好专业
    打赏 拉黑举报14年前 电脑端 回复 (0)
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