元件筛选试验求助

若元件本身可靠性不好,筛选后也是不太可靠的.
实在无法替代,应该从设计上解决,如降额使用,冗余设计等等.

不关关是环试，但肯定是一部分呀，不是LZ做的是民品还是军品，如果是后者好像GJB548B是一份新的，至于量化的话，应该没有一个很清楚的界线。

不知道你们是自己内部做还是外包到第三方实验室？其实只要有基本的环境设备就能对产品进行验证(抽检)，但不知你是全检还是抽检？

这个筛选要逐步的试验的，别吧好的也筛出问题来了。

建议论坛专门建一个关于元器件筛选的版块,让大家积累更多的有效筛选经验,共同打造中国元器件整体质量.

有的时候不筛选一定不行，筛了不一定性啊．

1.买回来的产品，应该算是你们的原材料。道理上厂家（即使是国内企业）出厂时就已经进行了aging，搞不懂你们为什么还要再进行一次筛选啊
2.如果一定要进行筛选实验的话建议先去咨询一下厂家的建议，毕竟筛选是以不过于影响产品的寿命为前提的
3.筛选下来的产品可以请厂商去分析实效的原因，找出其制程上的问题。当然也可以作为你们同厂商坎价的筹码

我们有套设备就是针对你这种情,我们统称叫它HASS,就是高加速应力筛选(HASS),如果你有兴趣请联系我,我姓罗,电话:0755-83064115
美国QUALMARK中国区公司,欢迎前来咨询.

根据应用场合来选择筛选试验的要求，高可靠性领域的可以参考下相关的军用标准如MIL-STD-883。其他的一般根据自己的实际需求和常见失效模式进行确定，这个不会是绝对固定的。但是一般TC和BurnIn相对来说比较重要，也是常用的手段。选择试验的时候需要根据产品特性来设定相应的失效判据。

器件产商会做Burnin
但在你产品上，出厂一般也会做Burnin.

当然老化试验在业界已有些争议，有人认为部分产品做此试验是多余的工作，可以不做。

这是另外的话题了。

BurnIn试验在元件出厂的时候供应商应该会做吧，我们买来元件之后要做的应该是二次筛选。

用BURNIN剔除早期失效品.
BURNIN条件需要做DOE来确定.
我司常用的BURNIN条件为85C高温加电老化24小时,
然后做10CYCLES的温循(-40C~85C),供参考.

帮顶一下。

剔除早期问题，一般就是说的浴盘曲线的第一阶段，可以说是ESS

分立元器件的参考标准，可靠性论坛好像见过几个标准规范，像二极管啊，自己搜索一下吧。

通过这样的试验，剩下的好的元件能好到什么程度？不好定啊，只能是筛选了早期失效。。

自己顶一下