比如MOSFET,使用时温度就比较高,所以设想在满载工作的情况下升高环境温度,如果质量不是太好,就会有一部分损坏(几分钟之内),那么剩下的质量应该会比较好?
问题:
1,这样筛选是否可行?剩下的是不是在常温下使用寿命会很长?
2,剩下的那些好的会不会因为筛选时的高温工作而“受伤”?也就是说会不会本来可以工作20万小时,高温试验后只剩下3万了?
3,温度和负载如何选取?(因为温度过高和负载过大失效机理会不同，并且会导致问题2?)
4,有没有相关的标准参考一下
可以用高温下工作来筛选元件吗?
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4.可参考MIL-STD-750，Burn-in测试和HTRB测试:)
1这种筛选可以筛选出一部分不良品，至于寿命，如果你的器件本来设计地就很短命当然筛选不能延长其寿命
2这个你可以去参考如何评价hass测试对寿命的影响（PS，这个问题讲过很多次了）
3首先必须保证不会引入新的失效模式，其实工作温度你可以参考产品的规范，在其正常工作规范温度之上再追加一部分就可以，至于追加多少不是三言两语可以讲清楚D
4我不知道