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    请教MTBF的几组概念

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    最近正在学习MTBF试验,经常看见如下几组概念,始终搞不明白他们的关系及相关计算,特请教各位行业前辈。
    1.可靠度(reliability)与置信度区间(confidencelevel)
    两个概念有何关系?可相互转换吗?如可以,如何转换?公式是什么?
    设计一个产品的MTBF实验时,如何确定这两个参数?
    2.失效率(FR),年失效率(AFR)和MTBF
    三者的关系是什么?如何相互转换计算?他们与MTBF试验的设计有什么直接关系?
    3.MTBF与MTBF试验的测试时间
    MTBF在数值上和MTBF试验的测试时间应该相等吗?如果不等,如何根据相关参数确定MTBF试验的测试时间?

    Lv.1
    等待高手解答
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    Lv.4
    我来回答第一个,剩下的其他人跟进:lol 可靠度你可以看作是使用者使用期间产品所表现的整体水平。 而置信度一般都是和MTBF联系在一起,表示MTBF的在你说的这个区间(如>3000h)的概率。 公式好像有一个:(2Pweibull) 1-CL=∑n!/(i!*(n-i)!*(1-R)**i*R**(n-i) 一般说的都是R和MTBF的关系,很少说到R和CL的关系,所以没必要太在意 置信度的要求对于设备级基本上都要求90%,MTBF大小一般是客户的要求,可靠度你可以按指数分布或weibull分布去算就好了,我记得 这里有一个示例,你可以先看看 [url] 链接[/url] [[i]本帖最后由wu8295于2008-2-2617:48编辑[/i]]
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    摘自fjd6581的一段解释可以帮你搞清第二个问题: 失效率最为简单的计算公式为λ=1/MTBF,但这个公式是指产品的失效为指数分布的情况下才适应,因此你必须了解你产品的失效分布情况,这对不少同行可能不太容易判断,因此我们可以采用时间和失效数量的关系求失效率λ,其公式如下: λ(t)=∆n(t)/∆t[N-n(t)] 已工作到t时刻的产品,在时刻t后单位时间内发生失效的概率,称为该产品在时刻t的失效率函数,又称为失效率。举个例子看看是否能帮你解决疑难。注意其中的时间段, 有100块IC,在1000小时内失效5块,在1000~1010小时失效38块,求t=1000,和t=1010h的失效率的估计值? 代入公式:λ(t)=∆n(t)/∆t[N-n(t)] 求解: λ(1000)=5/1000(100-0)=5×10-5/h =50000Fit λ(1010)=38/(1010-1000)(100-5) =0.4%h-1 所以: 1。失效率越小,那么MTBF就越大; 2,试验样本容量越大,测试的时间越长,发生故障的产品越少,那么失效率越小,MTBF越大。 从失效率的定义可以知道失效率与年失效率的关系了:P
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    MTBF的测试时间根据所选的试验方案不同而不同,具体的你可以看一下GJB899。
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    Lv.2
    第三个问题比较好回答。MTBF与MTBF试验的测试时间是不等的,它们之间有一个完整的公式进行换算。就是MTBF的公式。下面这个公式不一定通用。 [[i]本帖最后由fancy于2008-2-2714:56编辑[/i]]
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    Lv.2
    T=测试时间 C=ConfidenceLevel可信度 2r+2=DegreesofFreedom自由度 r=#ofFailures失效的个数 第一个公式分母是需要查表所得。
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    Lv.1
    非常感谢各位朋友的慷慨赐教!相关实例非常好。还有几个小问题,请赐教: 对三楼的朋友wu8295,这个公式1-CL=∑n!/(i!*(n-i)!*(1-R)**i*R**(n-i)我还是有些不太理解,始终的i代表什么?能举个计算实例吗? 六楼朋友fancy,从哪里能获得卡方查询表?能给个连接或直接share给我吗?万分感激。
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    楼主可比我'厉害'多了,:lol:lol 式中的i只是任意给定的变量,是个整数,从1直到n,也可以用任意变量k、r等。 至于卡方分布,我级别不够,不能发附件,只能新建帖子了。:(
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    Lv.1
    谢谢指点.
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    λ(t)=∆n(t)/∆t[N-n(t)] 已工作到t时刻的产品,在时刻t后单位时间内发生失效的概率,称为该产品在时刻t的失效率函数,又称为失效率。举个例子看看是否能帮你解决疑难。注意其中的时间段, 有100块IC,在1000小时内失效5块,在1000~1010小时失效38块,求t=1000,和t=1010h的失效率的估计值? 代入公式:λ(t)=∆n(t)/∆t[N-n(t)] 求解: λ(1000)=5/1000(100-0)=5×10-5/h =50000Fit λ(1010)=38/(1010-1000)(100-5) =0.4%h-1
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