目前针对某电子产品进行了硬件升级,更换了60个多元器件,产品共一千多个元器件。
因为做了更改,客户要求做鉴定试验证明其MTBF符合原要求(原要求1000小时,原产品已经通过了鉴定试验)
如果按照新产品做鉴定试验的话,成本太高了。
有没有相关的技术或者标准或者案例,针对这种更换元器件的改进产品的鉴定试验方法?
我是想通过可靠性预计理论上证明更换的60个器件可靠性高于原来的60个器件,然后按照鉴定试验的剖面进行一定的时间的鉴定试验。
但是这个试验时间长短该怎么确定了?
或者大家有更好的方法?
目前针对某电子产品进行了硬件升级,更换了60个多元器件,产品共一千多个元器件。
因为做了更改,客户要求做鉴定试验证明其MTBF符合原要求(原要求1000小时,原产品已经通过了鉴定试验)
如果按照新产品做鉴定试验的话,成本太高了。
有没有相关的技术或者标准或者案例,针对这种更换元器件的改进产品的鉴定试验方法?
我是想通过可靠性预计理论上证明更换的60个器件可靠性高于原来的60个器件,然后按照鉴定试验的剖面进行一定的时间的鉴定试验。
但是这个试验时间长短该怎么确定了?
或者大家有更好的方法?
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