[可靠性]最近的动态
LED芯片失效点分析(OBIRCH+FIB+SEM)
OBIRCH 作为一种新型的高分辨率微观缺陷定位技术，能够在大范围内迅速准确地进行器件失效缺陷定位，基本上，只要有LED芯片异常的漏电，它都可以产生亮点出来。 原理：用激光束在通电恒压下的LED芯片表面进行扫描，激光束部分能量转化为热能，如…
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