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半导体器件（HAST）强加速稳态湿热试验方法
1、范围GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。2、强加速稳态湿热试验（HAST）一般说明强加速稳态湿热试验通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部…
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