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隐藏支付积分芯片验证测试及失效分析
不错的资料:victory: 在现代集成电路制造工艺中，芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小，各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm器件的一套掩模成本可能超过130万美元。因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。...- 0
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求教:关于冲击试验机half-sine快速调机方法及跌落测试角度控制方法
我处目前有美国LANSMONT一台冲击试验机和一台跌落实验机,有两个问题一直难住我很久,现公开请教各位: Q1:方波测试我已研究出一套计算公式,每次直接在Excel里面输入G值与作用时间或速度变化量及试样重量就可以直接得到平台上升高度与氮气压力,与实际值可控制在3%只内,非常准确. 但Half-sine一直没有找到好方法,以至于我每次调试一个新规格要好长时间,严重影响了工作效率.在网上找到一篇文章…...- 0
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二极管的电气性能检测标准？
二极管的电气性能检测标准？ 各位大侠，二极管的电性参数检测参考的测试标准有吗？ 或者告知测试方法？ 开关、整流及稳压还有肖特基是否电性参数检测方法也是不一样的？ 多谢多谢~~~...- 0
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小弟请教：振动方面知识
“正弦振动：频率范围5-350HZ；扫频速率1octave/min；5-10HZ，振幅7.5mm；10-350Hz，加速度20m/s2” 最近常接触此类试验，为什么低频要用振幅，如5-10HZ，振幅7.5mm；高频要用加速度，如加速度20m/s2，这样有什么优处。求助（正弦/随机）振动方面分析资料或文献，谢谢大家指教。...- 0
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求助 微量级的振动试验 :-(
客户要求做微量级的振动试验，具体要求是： 正弦5Hz/0.001g定频试验或者更低如5Hz/0.00001g的试验 我们的工程师说了～～不好弄～～因为启动台子或者启动风机本身，或者即便是打个喷嚏引起的振动都不止这个要求了～～ 有高手知道怎么做这个试验么？还望不吝赐教！多谢多谢先！...- 0
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“Grms”指的是什么？
请教各位：“Grms”指的是什么？谢谢！ 1）是指加速度均方根这个物理名词？ 2）还是指随机振动的一个能量单位？ 如果是"5Grms"是指5g(即50m/s2)?还是指5m/s2？...- 0
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关于积分球测试42W紧凑型自镇流荧光灯的问题
昨天做了个光通量的测试： 标称2800lm的42W荧光灯放在1.5m的积分球里测试，输入为额定电压120V，电参数仪器显示输出37.9w，光通量为2421lm。改用2m的积分球测试，同样输入120V，电参数仪器显示输出为39.5W，光通量为3012lm，相差较大、、、、、、、 后用2m的积分球测试1.5m积分球的标准光源，色坐标、光通量都与1.5m球定标时的参数相差很小（测试光通量为2844，额定…...- 0
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RRT- rolling reliability test
RRT,有没有哪位大侠听说过这样的可靠性试验，具体的要求是什么，最近我在网上搜了很多，但是没什么结果，好像没这方面的资料。...- 0
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[寻找]笔记本测试实验室
想寻找笔记本相关测试(如:以下测试)的实验室,在苏州,昆山等附近的. Kensington寿命测试 插拔测试 橡胶脚测试 LCD抗压测试 地面压力测试 按键寿命测试 键盘寿命测试 电池充放电测试 扭力测试 LCD门闩测试...- 0
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关于可靠性试验的环境实验选择
对于一个简单的SMD部件,如果要做一个可靠性方案，那么我们应该如何去选择环境实验........，样板数量如何定义？请高手帮忙.........- 0
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请教：IC器件的寿命如何评估
TC/HAST/HALT的试验主要是激发缺陷，但是不能比较准确的得到寿命； 请教专家，何种试验可以准确预测IC器件的寿命？谢谢...- 0
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压敏电阻的可靠性试验
请教一下： 各位有没有对压敏电阻进行温度循环试验的经验？ 我看了一下业界的做法，大部分都是进行温度冲击试验，我现在遇到这样一个问题，温度冲击试验没有问题，但是温度循环试验出问题了，电阻表面开裂。但是供应商不承认我们这个作法，所以想问问大家：压敏电阻需不需要进行温度循环试验？有没有什么标准或行业依据？ 温度循环的条件是： －40～80摄氏度,dwell30min,20摄氏度/min，500cycle…...- 0
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寻找ISTA运输试验方面的标准(3A 08 /2A/fedex)
各位兄弟姐妹们，本人目前从事的是显示器件生产品质保证方面的工作，正在寻找ISTA运输试验方面的标准，若谁有此类标准的话，可否共享一下，感激不尽:handshake...- 0
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