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请教:299C与217F的差异
我完全是小白,客户要求按照217F做可靠性计算MTTF。没有办法短时间读懂217F,但是下载到了299C,能否按照299C计算?差异会有多大? 诚心请教!... 青橄榄树- 0
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回收二手设备,高价回收!!!
解你所需,救你所急。高价回收工厂废旧设备、实验室环境设备、机械设备、老化、运输等设备。另回收电子料、工厂尾料、(充电器、数据线、电池、主板)等。 联系电话:15919862575... shaw- 0
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芯片HAST电路设计
本人初入可靠性这一快,对HAST偏压的电路设计不是很理解,还请教各位前辈电路这一块需要怎么设计; 我咨询过一些人,别人说的很模糊,说是需要相邻的两个管脚需要有电压; 大家能给一些更多的说明吗... mm3515- 0
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求助!!有没有做过机会成组维修决策模型的?
RT: 有没有做过机会成组维修决策模型的?:)寻找 [color=Red]模型求解的代码 (遗传算法之类的)参考参考 实在是搞不粗来。。。。... 耳东- 0
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活化能Ea的值如何确定?
各位大神好,请教一个问题,在SSD可靠性验证过程中,需要用到温度加速,AF=Exp(Ea/K(1/T0-1/T1)), 请问如何确定Ea的值?... alibabayang- 0
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芯片(IC)工业级与商业级的除了可靠性方面的差异还可以从哪些方面来看
工业级和消费类芯片除了可靠性方面的差异,其他有哪些差异,从哪些方面来看呢 ?求助!找了很多天了,一直没有什么系统的资料。(可靠性和工作温度的差异已经知道),其他方面呢? :'(... Nicolewll- 0
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求助各位大佬,ofgem的电能表的可靠性验证试验方案
最近读到了一篇兰吉尔关于电能表寿命评估的文章,其中提到:“英国的ofgem从1000只样本中抽取45只做定时截尾可靠性环境模拟试验,当累积试验时间达到预定的试验时间(对应固定寿命评价周期,如10年、15年、20年)时截止试验,根据截止试验时间和累计失效数用以验证基于SN29500的可靠性预计结果;并在2004年对兰吉尔公司的一款电表颁发了20年寿命证书” 不知哪位大佬了解ofgem的验证试验的具体…... yyhchilly- 0
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泰琪的冷热冲击试验箱的几个参数不明白,请各位大侠指!
公司现在想买一台泰琪的冷热冲击箱,但是泰琪给的参数中,有几个不太明白: 1. 冲击复归时间:-65度~150度,约需5分钟 2. 高低温冲击恒温时间:30分钟以上 3. 转换时间:小于等于10S 这个参数里边的“冲击复归时间”和“高低温冲击恒温时间”是什么意思,有点搞不太明白。 请各位帮忙解释下~~~~... Andy.Z- 0
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TC算出的失效率怎么计算
元件是利用TC算出失效率, 但是再把它计算到产品里面的时候,遇到了问题,不知道如何代入计算。 如果是加速老化计算求的的失效率,我们有Tuse和Tstress,那么算的的失效率就是相对于Tuse的失效率。 代入到产品里面的时候,再考虑元件在内部温升,计算Af,就可以得到在产品里面的失效率。 但是TC计算出来的失效率,没有一个固定的Tuse,所以代入到产品的时候,没有办法根据温升,再计算其内部失效率了…... pepsiasd- 0
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