请教：间隙工作寿命

zhangxw · 发表于 2010-3-26 13:49:43

IEC60747-9-2007中的间隙工作寿命试验中，结温如何控制，off时间一般取多少，on的时间又取多少，不知有没有专门的测量设备

zhangxw · 发表于 2010-3-30 23:53:54

IEC60747-9-2007

art9:Insulated-gatebipolartransistors(IGBTs)
IGBT是MOS结构双极器件，属于兼具功率MOSFET的高速性能与双极低电阻性能的功率器件。IGBT的应用范围一般都在耐压600V以上、电流10A以上、频率为1kHz以上的区域。鉴于IGBT的参数特性，IGBT目前主要应用在电机、变换器(逆变器)、变频器、UPS、EPS电源、风力发电设备、数码相机闪光灯充电器、电磁炉、变频家电等工业控制和消费电子产品中。在汽车电子市场IGBT也已经代替达林顿管成为汽车点火器的首选器件,另外在计算机和网络通信领域，IGBT广泛应用在大功率服务器、UPS电源以及大功率基站中。

zhangxw · 发表于 2010-3-31 12:33:47

间隙工作寿命(IOL)中，IGBT器件结温的上升如上图所示，先上升后下降，结温的变化为如果是60℃，首先是结温上升值如何测量，其次结温下降速度要够快，因温循次数很多，结温下降快才能减少试验时间，如有专用测量设备，请路过的大侠留下信息。

zhangxw · 发表于 2010-4-1 23:43:16

发一篇关于IGBT的技术文章

deadxiaoh · 发表于 2010-6-21 17:44:28

好专业！还有专门测间隙工作寿命，呵呵

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