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有人做过二极管芯片的可靠性试验吗?

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发表于 2009-11-18 09:23:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
我们家的肖特基芯片送出去封装良率特别低,60%~70%,漏电大400UA多啊!
解剖出来,芯片没有明显的击穿,裂痕,缺角等现象。
那是芯片本身的原因吗?于是我对芯片做HTSL试验,直接放100个CP的芯片在150度的烘箱里,3天后良率是4%,还是漏电,到200uA了。并且芯片表面发黄有点氧化。听说要通N2,可问了一下,一般人家的HTSL试验也没有通N2的,那怎么对芯片做HTSL对呢?
以前听说先对芯片做COB再去做试验,可对我们来说有点麻烦,因为二极管很少去做芯片级别的试验。
发表于 2009-11-18 09:52:20 | 显示全部楼层
你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问题占主要.还是把关注点放在制程工艺上吧.
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发表于 2010-7-8 09:28:00 | 显示全部楼层
你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问...
fanweipin发表于2009-11-1809:52


同意,看看钝化工艺有无问题?
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