如何找出失效需要比较长时间的故障

lams001 · 发表于 2009-10-26 09:05:23

最近，公司有一个产品因为设计时将部品特性用错（本来是要用金属膜电容，用了MYLAR电容），结果产品到市场2~3个月后开始发生电容内部短路（电阻变小）的问题。而在可靠性验证
阶段没有发生这个故障（故障出现的时间比较长），请问下有没有好的验证方法找出这类不良。

Alexyang · 发表于 2009-10-26 10:09:24

最好的方法是做HALT/HASSS试验，如你想了解。请联系美国环测深圳地区的杨生：手机：13590200965

ragi · 发表于 2009-10-26 11:17:13

樓上的兄弟很直接拉，呵呵！其實HALT/HASS是個不錯的建議，不過成本也是每個老闆一定在乎的，我建議先可以通過burnin的方法去試試，這個在你們工廠内部就可以做了吧，當然需要花點時間，可以盡量將溫度升高，在產品可操作的前提下！或者是用溫度循環（thermalcycling）也可以試試，！這些方法都是加速產品老化，朝著這個方向去就行了！

lams001 · 发表于 2009-10-26 12:13:53

谢楼上2位兄弟，目前我准备尽量延迟AGING的时间和提高条件。

yeh · 发表于 2009-10-26 20:47:04

MYLAR电容敏感因子是佘麽先了解,再针对敏感因子规划试验比较洽当.

fanweipin · 发表于 2009-10-27 10:35:18

都是吹的，很明显的测试没有做，还HALT，测一下电容的峰值电流就可以看出结果了。两个电容的峰值电流是不一致的，有示波器的电流探棒沟就出来了。HALT费钱啊！

lams001 · 发表于 2009-10-28 08:54:28

请楼上的大哥再说明下，电容的峰值电流如何测试，我只测过峰值电压。

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