对电子产品的老化时间如何设定

shenjq · 发表于 2009-8-9 18:15:45

地铁通讯系统。是带电循环测试，关键是温度和时间我掌握不了，所以我想请教如何确定其温度和时间

ragi · 发表于 2009-8-10 09:24:26

我认为你可以参照一下同类产品业界的标准。最关键还是看你产品的稳定性怎么样，要根据你们产品BrinIn后的不良率来决定，这个你可以通过weibull去分析一下，算算进入稳定期需要多久，所以建议先取一定样品做burnin,就让你们想要的burnin时间去做，然后将做完后的试验做不良分析，在用weibell做数据分析，在用MTBF的简单公式就可以得到是不是你想要的，如果不行，再反复这样试验，最终总会找到这个时间点。如果还不太清楚，我们可以通过msn交流：ragixu@163.com

shenjq · 发表于 2009-8-10 09:33:44

多谢指点.我先试试

echoxfs · 发表于 2009-8-10 10:41:17

如果是带电循环测试，不知是整个试验期间产品都通电还是某个阶段通电？
一般温度循环测试，通电期间的温度是你产品的工作极限温度，断电期间的温度是你产品的贮存极限温度。在高低温阶段的驻留时间是产品温度稳定时间，即保证产品内部温度达到环境温度。
至于总的试验时间需根据产品的可靠性来定，一般情况下温度循环做80个小时应该可以了，具体的你可以看一下GJB1032

[本帖最后由echoxfs于2009-8-1010:50编辑]

liyongxiang · 发表于 2009-8-10 14:20:05

要看什么产品啦

b122741814 · 发表于 2009-8-10 16:42:29

我们公司属于生产元器件的
一般产品端面老化试验:150度*4h

sting.liu · 发表于 2009-8-10 20:14:48

感谢12楼和14楼的高手分享，使人受益良多。

shenjq · 发表于 2009-8-10 22:57:00

多谢指点，我也准备利用其工作的极限温度来进行出厂测试。一般用上24个小时以后在看效果应该可以吧

liugang_2002 · 发表于 2009-8-11 23:16:52

对电子产品的老化时间如何设定
关于电子产品的老化标准，不同的产品不尽相同。但是如何设定某个产品的老化时间，需参照那些参数，具体如何操作

我的理解：
1.对于具体的老化时间设定，还没有一个具体的规定。各个公司都有一定的依据或经验参考。
2.关于老化时间设定，要分设计阶段还是量产阶段，目的和老化时间都是不一样的。
2.1.量产阶段：可靠性筛选，一般的电子元器件的寿命大概是20年（国外一些书或论文中有统计），根据浴盆曲线理论，元器件处于早夭期得时间大概是1年（标准：SR-332)，为减少早夭产品在客户端发生，多数公司都更愿意将早夭期失效发生在工厂而不是流入客户端。所以在工厂端正常使用大概1年，这可以间接作为老化时间的理论依据。当然，不可能在工厂端使用1年的时间，这可以通过加速老化来实现。具体的加速模型和参数条件可在本网站上搜下，有很多。
2.2设计阶段：可靠性验证。这主要验证设计产品的寿命和MTBF，当然也是通过加速老化来实现。

micky · 发表于 2009-8-11 23:42:33

看产品的吧，是以前的Burnin测试庅

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