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GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

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发表于 2007-10-12 12:54:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
GJB128A-97代替GJB128-86
1.1主题内容
本标准规定了半导体分立器件(以下简称器件)的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试
1.2适用范围
本标准适用于军用半导体分立器件。


点击下面的链接:

        GJB128A-1997半导体分立器件试验方法IDTMIL-STD-7508楼
 楼主| 发表于 2007-10-12 13:04:19 | 显示全部楼层
网络出了故障,附件上传不了,只能让admin上传了。

chinaxiayu
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发表于 2007-10-12 13:12:26 | 显示全部楼层
关注ing
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发表于 2007-10-12 14:31:23 | 显示全部楼层
等上传了研究下,觉得硬件设计人员对这个应该了解!
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发表于 2007-10-12 14:40:54 | 显示全部楼层
chinaxiayu把我的邮箱记错了,联系重复传,收到后,晚上才可以传上来与大家分享。
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发表于 2007-10-12 15:47:12 | 显示全部楼层
期待中........
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发表于 2007-10-12 17:28:43 | 显示全部楼层
期待!!
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发表于 2007-10-15 16:26:52 | 显示全部楼层
什么时候可以上传与大家分享呢?
急切期待中ING.
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发表于 2007-10-15 16:30:25 | 显示全部楼层
邮件传送出错,暂没有收到xiayu兄的附件。希望xiayu看到贴子后,查看邮箱,上传附件或者发邮件给我代为上传:cliffcrag#126.com
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 楼主| 发表于 2007-10-16 12:29:13 | 显示全部楼层
已提供了链接地址,见1楼。

chinaxiayu
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