关于内存的可靠性试验问题，求助

vincent.fq 发表于 2008-12-8 17:31:49

请问各位老大
内存条如果做可靠性试验的话，应该做哪些？
比如环境试验，高温，低温，高低温循环，高温高湿，振动，EMC？是否都需要？主要的技术参数是什么呢？
有没有什么标准是针对像内存条这样的module的呢？
内存条厂家是怎么做的呢？

还望各位老大不吝指教
非常感谢

yeh 发表于 2008-12-8 19:35:57

JESD标准专门在谈IC可靠性试验,可以上官网找找.

http://www.kekaoxing.com/club/viewthread.php?tid=646&highlight=je

无言发表于 2008-12-8 20:12:09

找第三方不?找我就OK了!!!

vincent.fq 发表于 2008-12-10 10:06:18

感谢各位，我是想先有个底，至于找第三方，也需要知道自己的产品应该达到什么样的水平吧
所以我一直想要找到一个标准，关于内存条可靠性测试的业内标准
这样才能进行选型和设计吧
不知道有没有这样的资料可以提供给小弟
感谢

aries 发表于 2008-12-10 14:49:39

业内标准如果是轻易能够找到
那公司还有啥秘密可言哦

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