chinaxiayu 发表于 2007-10-12 12:54:43

GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

GJB128A-97代替GJB128-86
1.1主题内容
本标准规定了半导体分立器件（以下简称器件）的通用试验方法，包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试
1.2适用范围
本标准适用于军用半导体分立器件。


点击下面的链接：

　　　　　　　　GJB128A-1997半导体分立器件试验方法IDTMIL-STD-7508楼

chinaxiayu 发表于 2007-10-12 13:04:19

网络出了故障，附件上传不了，只能让admin上传了。

chinaxiayu

sunjj 发表于 2007-10-12 13:12:26

关注ing

lxl6021 发表于 2007-10-12 14:31:23

等上传了研究下，觉得硬件设计人员对这个应该了解！

cliffcrag 发表于 2007-10-12 14:40:54

chinaxiayu把我的邮箱记错了，联系重复传，收到后，晚上才可以传上来与大家分享。

oyboooooooo 发表于 2007-10-12 15:47:12

期待中．．．．．．．．

beacherdon 发表于 2007-10-12 17:28:43

期待！！

sunjj 发表于 2007-10-15 16:26:52

什么时候可以上传与大家分享呢?
急切期待中ING.

cliffcrag 发表于 2007-10-15 16:30:25

邮件传送出错，暂没有收到xiayu兄的附件。希望xiayu看到贴子后，查看邮箱，上传附件或者发邮件给我代为上传：cliffcrag#126.com

chinaxiayu 发表于 2007-10-16 12:29:13

已提供了链接地址，见1楼。

chinaxiayu
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