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Gotit.Thanksverymuch.Thanksagain!
谢谢soaja分享，谢谢！ cliffcrag推荐的那个计量网站我看了，不过有点黑，下一个附件要10金币:L，慢慢挣吧:(
哈哈，同意楼上的建议。:victory:
自己顶一下，继续寻求高手的指导。
看了，我们采用的模型和eifer001采用的计算模型相同，只是涉及到一个高温加速的问题，有一个加速因子，而失效激活能对加速因子影响较大。所以相对准确的失效激活能可是使MTBF的估计值更趋近于真值。
有个问题，Ea怎么确定？看到有实验法确定，但耗时，在产品开发阶段不适用，也看到有针对元器件的Ea推荐值，没看到对系统级产品的推荐值。比如手机，PND，是否有经验值可以借鉴？哪位高手知道，请不吝指教！
看了，不过比NOKIA的规范松了很多。呵呵，看来人家做的好还是有道理的，设计冗余度就相对高一些。
收了，说声谢谢，谢谢兄弟分享。
[quote]原帖由[i]xyxiang1982715[/i]于2007-8-1012:50发表[url=pid=6211&ptid=1229][/url] 可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？ 谢谢！[/quote] Theburn-intestisperformedforthepurposeofscreeningoreliminatingmarginaldevices,thosewith inherentdefectsordefectsresultingfrommanufacturingaberrationswhichcausetimeandstressdependentfailures.Intheabsenceofburn-in,thesedefectivedeviceswouldbeexpectedtoresultininfantmortalityorearlylifetimefailuresunderuseconditions.Therefore,itistheintentofthisscreentostressmicrocircuitsatorabovemaximumratedoperatingconditionsortoapplyequivalentscreeningconditions,whichwillrevealtimeandstressdependentfailuremodeswithequalorgreatersensitivity. 详见MIL-STD-883FMETHOD1015.9BURN-INTEST MIL-STD-883F下载地址： [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1923-1-1.html]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1923-1-1.html[/url]
收了，很实用，谢谢分享
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[quote]原帖由[i]xyxiang1982715[/i]于2007-8-1012:50发表[url=pid=6211&ptid=1229][/url]
可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！[/quote]
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