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GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中2.4.3条有明确： 1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（中文）（IDTIEC60068-2-14：1984）中2.4.3条有明确： 1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
和压力（压强或高度）相关的试验还要分三个范围： 1.高原海拔模拟：主要涉及的是空气密度和压力降低后对吸气、散热、密封的影响，一般上限做到5000m左右； 2.航空高度：主要涉及的是压力（温度）降低变化后对试件的影响，考虑高空工作和运输储存两种状态度，一般上限做到30000m左右； 3.太空高度：主要是模拟太空的冷黑环境，分为温度循环试验和热平衡试验，真空度一般做到10-4Pa或10-5Pa。
[i=s]本帖最后由杨头于2016-1-1809:06编辑[/i]
不要误人子弟
丢掉吧
冷热冲击试验与温度循环试验的区别[file url='https://www.kekaoxing.com/club/data/attachment/forum/201510/29/175714nufow6f53eej3q3d.attach' name='冷热冲击试验与温度循环试验的区别.pdf' pass=' 大小：199KB attach文件下载后改名pdf后缀']
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GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中2.4.3条有明确：
1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中2.4.3条有明确：
1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化中2.4.3条有明确：
1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（中文）（IDTIEC60068-2-14：1984）中2.4.3条有明确：
1±0.2℃/min;3±0.6℃/min;5±1℃/min;
和压力（压强或高度）相关的试验还要分三个范围：
1.高原海拔模拟：主要涉及的是空气密度和压力降低后对吸气、散热、密封的影响，一般上限做到5000m左右；
2.航空高度：主要涉及的是压力（温度）降低变化后对试件的影响，考虑高空工作和运输储存两种状态度，一般上限做到30000m左右；
3.太空高度：主要是模拟太空的冷黑环境，分为温度循环试验和热平衡试验，真空度一般做到10-4Pa或10-5Pa。
[i=s]本帖最后由杨头于2016-1-1809:06编辑[/i]
不要误人子弟
丢掉吧
丢掉吧
冷热冲击试验与温度循环试验的区别[file url='https://www.kekaoxing.com/club/data/attachment/forum/201510/29/175714nufow6f53eej3q3d.attach' name='冷热冲击试验与温度循环试验的区别.pdf' pass=' 大小：199KB attach文件下载后改名pdf后缀']
要看试件的类型。。。
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