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从温度循环的测试步骤来看,一般分为:高温,低温,温变。
一般我们在测试执行过程中,都会上电测试,但是上电后,产品自身功耗导致低温状况很不佳,所以我们最终改进了温度循环的测试方法,在降低温时,我们会让产品掉电,可以让产品很快的降低到一个我们需要的低温状态,而且也节省了温箱资源和成本。在生高温时我们会让产品继续工作,以便达到一个较高的温度。对于电子产品高温是最恐怖的,最产品的寿命和可靠性都有严重的损伤。
所以,建议降温时,掉电测试;升温时,上电测试。再加一些测试用例,如高低温启动,或者低温储藏等有效手段。