bradleylv2lv2

非常感谢aries和justinbk等高手的细致答复！
学到不少东西！！

主要是公司小，产品量少，但是对产品的要求算比较高(电力用测量仪器，属于工业产品)。元件的IQC无法做到，就想通过高温老化来一次性做一下最后的把关。其实我自己也觉得，在极限温度下老化，很有可能反而导致器件过早进入澡盆曲线的后半部。
对于关心的参数，其实主要是功率器件在相对高温下的稳定性，以及抗各种电冲击的能力。因为我们的仪器使用过程中，本身会发热，另外，有很多额外的电冲击加到端口上。另外，当然还是有些担心某些器件的本身质量。
可能如各位所说，基本从正规渠道获得的元器件，已经没有什么必要做所谓的老化。只要对整机进行一段时间的通电，测试没什么问题，就应该可以出厂了。

[quote]原帖由[i]aries[/i]于2009-4-3014:00发表[url=pid=47097&ptid=5936][/url]
就是说你其实是想做一个筛选
坦白说,虽然见过很多书上讲筛选
但是我从来没有见过哪个公司真正做筛选的,汗
小的见识比较少[/quote]

对，其实目的是筛选
然后就是考虑用极限温度下老化的方式，适合不适合来做这种筛选

谢谢

加速是基于Arrhenius模型的原理粗估的，确实是一个很粗的概念。只能在老化过程中，尽量保证各部分温度一致。

从MTBF=总时间/总故障数来看，这30台中，如果出现一次故障，那么就得到30000小时的MTBF值。

[quote]原帖由[i]justinbk[/i]于2009-4-2816:02发表[url=pid=46836&ptid=5936][/url]
一般对于一个成熟工艺的器件（我这里主要指IC类），寿命一般很长，远比设备产品的使用寿命长很多，我们一般认为，正常情况下（通常指常温，二三十度的样子，没有异常电骚扰等）的集成电路使用寿命是可以不需要考虑的...[/quote]

我做加速老化的目的，其实是想渡过澡盆曲线的第一段，筛选一下，让某些存在可靠性隐患的器件早点暴露出问题。这种目的是不是不应该做这种极限温度下的老化呢？
因为我们每批的产品数量比较少，所以想尽量提高加速的倍数，缩短老化时间，所以才会想到在极限温度下进行老化。

我们做的是工业产品，经常会在相对高温的情况下工作（内部有功率器件，自身发热），可能内部会达到50度以上。

大概的意思已经明白了，非常感谢！！

对，我想知道的是，定义这个极限温度，比如85度，是依据什么来得到的
是不是这个温度下，失效率会达到某个值，比如10%之类的

谢谢justinbk朋友如此细致的回答！

其实我问这个问题的原因，是需要做高温加速老化试验。因为器件都有一个工作环境温度的限定，比如-40到85度，那么，做高温加速的时候，让它工作在最高温度下其实也是可以的，而且粗略估计的话，可以达到2^[(85-25)/10]=64倍加速。以前担心在接近极限温度下，没法进行加速老化试验，因为这个值或者超出这个值，厂家都没有给出可能的失效率情况，但是是否是一种失效率突增的情况。
不知道这种理解对不对？谢谢！

那就还要请教一下，利用阿伦尼乌斯公式换算的话，激活能这个量可以用什么方式得到呢？
比如MOSFET，集成电路等

想尝试用这个公式，就是不知道怎么找到激活能