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[i=s] 本帖最后由 morrison 于 2018-4-20 19:05 编辑 [/i]
表中的數值是卡方分布表查到的數值再除以 2。因為在固定時間的情況下,失效次數 r 為不確定的隨機變數,失效次數的兩倍就是卡方分布!
公式中的 10[sup]9[/sup],表示 failure rate 的單位是 fit = 10[sup]-9[/sup] fr/hr (= ppb)。
[i=s] 本帖最后由 morrison 于 2018-4-7 23:00 编辑 [/i]
AIAG-VDA Failure Mode and Effects Analysis (FMEA) First Edition @2017 AIAG & VDA (定稿前審核版,可能可以下載預習)
[url]https://www.ub-dietz.com/fileadmin/documents/downloads/FMEA_Handbook_AIAG-VDA_FMEA_eng.pdf[/url]
[quote][url=pid=94554&ptid=11436]sunjj 发表于 2011-9-23 11:29[/url]
本帖最后由sunjj于2011-9-2317:06编辑
NASANSTS22206FMEA
[/quote]
AIAG/VDA FMEA Edition 1 2018 (可能可以下載)
[url]https://www.google.com.tw/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&source=web&cd=1&cad=rja&uact=8&ved=0ahUKEwjTiJ2Ur6jaAhXDoZQKHZbWD1oQFggmMAA&url=https%3A%2F%2Fwww.ub-dietz.com%2Ffileadmin%2Fdocuments%2Fdownloads%2FFMEA_Handbook_AIAG-VDA_FMEA_eng.pdf&usg=AOvVaw1iGl4bajHr8ADdIWNZp1_2[/url]
[quote][url=pid=170614&ptid=12307]7847319发表于2016-4-711:50[/url]
请问国军标是那个标准?筛选度又改定成多少合适?怎么定[/quote]
GJB1032:1990及GJB/Z34:1993
[quote][url=pid=155746&ptid=16998]vanessa2004发表于2015-6-1510:28[/url]
大家没有么?[/quote]
EIA364-17C~IEC60512Test09,EIA364-32~IEC60512Test11,
[url]http://publications.act-ioi.com.tw/index/024/b01[/url]
[i=s]本帖最后由morrison于2015-12-414:28编辑[/i]
假如從西方的觀點,
以美軍為例,標準的英文standard、主要是與共通的技術為主,MIL-STD-785美軍可靠度管理標準、MIL-STD-810美軍環境試驗標準,MIL-STD-1344美軍連接測試標準,MIL-STD-883美軍微電路測試標準.規格的英文specification,以產品為主,MIL-PRF-38535美軍積體電路性能規格,MIL-PRF-55342美軍晶片電阻器性能規格。
國際標準化組織(ISO)與國際電工委員會(IEC)發行的文件稱為國際標準(InternationalStandards),差別就沒有美軍文件那麼嚴謹區別,固定電阻器國際標準為IEC60115,但是就生產的固定電阻器產品有通用規格、分節規格、細部規格、空白詳細規格,例如:
[list]
[*]IEC60115-1為通用規格(generalspecification)
[*]IEC60115-2為樣式分節規格(sectionalspecification)
[*]IEC60115-4為詳細規格(detailedspecification)
[/list]
日本又是另一種情形,日本產業標準(JapanIndustryStandards,JIS)日文漢字為日本工業規格。亦即日本人稱standard為規格、specification為仕樣。
標準與規格都是一種文件,對於實質內容有共識最重要。
MIL-STD-1344,連接器美軍標準,已撤銷改用EIA364。
EIA364,美國產業標準,目前為2008年的D版。但是據聞EIA已於2011年2月起停止運作。
IEC60512初版1997開始發行,2001年為第4版。
比較這三份標準所規定的試驗方法大同小異,最重要的時效性,IEC60512應該是目前關注的焦點。不知是否有對應的GB?
[i=s]本帖最后由morrison于2015-4-1817:36编辑[/i]
鑑定測試=QualificationInspection,QualificationProcedure,首批(或前三批)
品質一致性測試=QualityConformanceInspection,ConformanceInspection,生產批
源自:美軍規範MIL-PRF-38535(MIL-I-38535)、MIL-PRF-19500(MIL-S-19500)等電子零件規範。
[i=s]本帖最后由morrison于2015-1-414:58编辑[/i]
[quote]myRMS发表于2014-12-216:39[url=pid=149121&ptid=13052][/url]
值得纪念的华人专家[/quote]
英年早逝,可惜!
[attach]11892[/attach]
楊博士(Dr.GuangbinYang,1964-2013),1986年獲得杭州電子工程學院機械工程學士,1989年獲得浙江大學機械工程碩士學位,2000年獲得美國WayneStateUniversity工業工程博士學位。畢業後進入美國汽車業界,分別任職Yazaki、Ford、Chrysler等公司。
楊博士不幸於2013年6月13日過世。詳見Dr.HoangPham2013年發表的追悼文:[url=http://www.worldscientific.com/doi/pdf/10.1142/S0218539313030010]Dr.GuangbinYang(1964-2013)[/url]。
[i=s]本帖最后由morrison于2013-4-1900:26编辑[/i]
不知道鉚釘該作什麼可靠度試驗,倒是美國海軍NSWC發行的機械可靠度預估程序手冊第23.12節有介紹鉚釘的可靠度預估方法,雖然不是很明確具體,總是值得參考的資料。