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很奇怪这类测试为什么不从实际使用环境需求着手调查，而一味找标准。标准是死的啊。不一定适合你的产品。
好像有一篇论文是写这个的，你可以搜下
嗯，吐槽了一番，心理舒服多了斯基。困告去。
你表格中最后一列的要求是零失效，所以是通过性试验，卡方模型应该默认失效1，以不同的测试样本应该会得到不同的可靠度或置信度。应该是可靠度吧，因为测试条件不一样。
电子零件的量化是fit，指10的负九次方每小时，就是通常说的拉姆达，R=e(-拉姆达*使用时间)，1/拉姆达=Mttf.你可以看看IEC 62380 标准，置信度通常是通过试验获得的，不过因为可靠性指标很高，所以做相应的试验时需要几百甚至几千倍的加速试验。
我的理解应该是你在十年中总的使用小时，包括上电和下电的，还有上下电次数，使用温度什么的一起，称作mission profile，根据这些使用条件定义一个可靠性目标，比如说95%.然后看你的设计是否能达到这个目标。
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嗯，吐槽了一番，心理舒服多了斯基。困告去。
你表格中最后一列的要求是零失效，所以是通过性试验，卡方模型应该默认失效1，以不同的测试样本应该会得到不同的可靠度或置信度。应该是可靠度吧，因为测试条件不一样。
电子零件的量化是fit，指10的负九次方每小时，就是通常说的拉姆达，R=e(-拉姆达*使用时间)，1/拉姆达=Mttf.你可以看看IEC 62380 标准，置信度通常是通过试验获得的，不过因为可靠性指标很高，所以做相应的试验时需要几百甚至几千倍的加速试验。
我的理解应该是你在十年中总的使用小时，包括上电和下电的，还有上下电次数，使用温度什么的一起，称作mission profile，根据这些使用条件定义一个可靠性目标，比如说95%.然后看你的设计是否能达到这个目标。