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谢谢各位老大的指点，目前因为实验产品是工业电脑，产品在24Kg左右，跌落高度为76cm，一角三棱试验破坏后，再对六个面进行硬盘的G值量测，要求六个面的G值不能＞65G，在这前提下，超过则算Fail，若低于65G，再对产品进行判断，如果没有包材问题，再对产品进行通电开机，若能正常开机，进入系统，则判定为Pass，不知是否合理。 按照公司内定测试方式为： 包装件质量kg跌落高度mm 50 300
针对硬盘的G值想要在65G以下，主要还是在于Carton和里面的EPE&EPS，你要看DROP时想对的频率，如果是在高频的话从SRS来讲的话就把Carton和里面的EPE&EPS改软，相反就改硬。
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谢谢各位老大的指点，目前因为实验产品是工业电脑，产品在24Kg左右，跌落高度为76cm，一角三棱试验破坏后，再对六个面进行硬盘的G值量测，要求六个面的G值不能＞65G，在这前提下，超过则算Fail，若低于65G，再对产品进行判断，如果没有包材问题，再对产品进行通电开机，若能正常开机，进入系统，则判定为Pass，不知是否合理。
按照公司内定测试方式为：
包装件质量kg跌落高度mm
50 300
针对硬盘的G值想要在65G以下，主要还是在于Carton和里面的EPE&EPS，你要看DROP时想对的频率，如果是在高频的话从SRS来讲的话就把Carton和里面的EPE&EPS改软，相反就改硬。