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看不到，是不是权限不够
关于双85和PCT的试验，如果产品极限都能达到，为了加速老化节省时间一般会选PCT，如果产品极限无法达到PCT的试验要求一般选用双85.双85和PCT的加速老化是可以根据Peck模型进行计算的。
我现在从事的是无源器件的可靠性方面的工作，比如现在做一个1/99的couper的试验，IL分别为0.2dB/20.1dB，那我这两端的失效判断依旧都用±0.5dB是否要求更高了？？
第四步，③光器件在室温下运行，相当于40℃/85%的储存，为什么常温下的取值是40℃/85%，另外有Peck模型计算的加速因子，非加速状态下温度和湿度取值是多少??
最新的GR-1221-CORE 加速计算公式AF=EXP(Ea/k（1/Thigh-1/Tlow）)*（RHhigh/RHlow）^η这个公式计算出来不知道是否准确
看不了啊，能不能调一下我们学习学习
下载不良能发我邮箱吗？[email]qiang.huang@rayzer.cn[/email]
光无源模块和器件的可靠性实验要求是一样的？？？
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我现在从事的是无源器件的可靠性方面的工作，比如现在做一个1/99的couper的试验，IL分别为0.2dB/20.1dB，那我这两端的失效判断依旧都用±0.5dB是否要求更高了？？
第四步，③光器件在室温下运行，相当于40℃/85%的储存，为什么常温下的取值是40℃/85%，另外有Peck模型计算的加速因子，非加速状态下温度和湿度取值是多少??
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