| 加工定制：否 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：韩国Micro Pioneer |
| 型号：XRF-2000 | 测量范围：000000000000000（mm） |
| 金属镀层测厚仪；荧光X线膜厚计；荧光膜厚计；韩国镀层测厚仪；荧光X线镀层测厚仪 | ||||
| 产品型号： | XRF-2000 | |||
| 产品简介： | ||||
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| 主要技术参数： | ||||
| 可测元素范围： | ||||
| 钛(Ti) – 铀(U) | ||||
| 可测量厚度范围： | ||||
| 原子序 22-25，0.1-0.8μm | ||||
| 26-40，0.05-35μm | ||||
| 43-52，0.1-100μm | ||||
| 72-82，0.05-5μm | ||||
| X-射线管：油冷,超微细对焦 | ||||
| 高压：0-50KV(程控) | ||||
| 准直器： | ||||
| 固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm | ||||
| 自动种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm | ||||
| 电脑系统：IBM相容,17”显示器 | ||||
| 综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 | ||||
| 镀层分析：可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. | ||||
| 镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. | ||||
| 定性定量分析：可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. | ||||
| 光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. | ||||
| 统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质. | ||||
联系：蔡志伟,0769-88035567,135352@qq.com
东莞市塘厦镇莲湖中路二区
