[i=s]本帖最后由tomta2008于2009-11-2315:39编辑[/i]
我探讨的主题是关于做手机方面Lens材料方面认证的。
有相关经验的人都知道，落球测试主要的三个条件是：
落球高度。
球体质量(包括球大小,面积，重量）
材料被砸到的位置。
在同一条件下,即使用同重量的球，选择同一批材料做同一位置的落球测试。
正常测试得到的结果是：球的高度越高，越容易将材料砸碎。
我的问题一：
为什么会出现，比如：球在1米高度时测试，材料不会损坏，而在0.9米高度会出现50%的损坏想象。
提示：我在0.9米高度作了4次，有2次材料被砸碎。我在0.7米，0.8米，1米，1.1米，1.2米，不同高度都测试过，材料不会被砸碎。
我的问题二：
在落球测试中，如果同一样品，是否可以选择多点测试。（在材料没有被破坏的情况下）
如果可以，材料被砸裂后，是否可以继续测试未被破坏的位置？
真诚请教，请高手们指点！
