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    请教落球测试-欢迎大家共同发言及探讨

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  • 可靠性试验
  • [i=s]本帖最后由tomta2008于2009-11-2315:39编辑[/i]

    我探讨的主题是关于做手机方面Lens材料方面认证的。
    有相关经验的人都知道,落球测试主要的三个条件是:
    落球高度。
    球体质量(包括球大小,面积,重量)
    材料被砸到的位置。

    在同一条件下,即使用同重量的球,选择同一批材料做同一位置的落球测试。
    正常测试得到的结果是:球的高度越高,越容易将材料砸碎。

    我的问题一:
    为什么会出现,比如:球在1米高度时测试,材料不会损坏,而在0.9米高度会出现50%的损坏想象。
    提示:我在0.9米高度作了4次,有2次材料被砸碎。我在0.7米,0.8米,1米,1.1米,1.2米,不同高度都测试过,材料不会被砸碎。

    我的问题二:
    在落球测试中,如果同一样品,是否可以选择多点测试。(在材料没有被破坏的情况下)
    如果可以,材料被砸裂后,是否可以继续测试未被破坏的位置?

    真诚请教,请高手们指点!

    楼主很认真啊,呵呵~ 问题一,0.7米,0.8米,1米,1.1米,1.2米没碎,也是每个高度测了4次?没碎还是用之前那块继续砸? 要比较的话,尽量每次一个变量,不然本来差距很小的东西,稍微多个变量,就找不到规律了 问题二,累积测试的话,被砸样品没变形没破坏可以继续砸,局部被破坏后,如果是比较脆的东西,不能再测其他位置了,韧性强的东西可以继续砸
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    0.9米下落的冲击频率更易引起材料的共振?
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    学习了~~
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