基于马尔可夫过程的高压断路器电子元件可靠性分析

基于马尔可夫过程的高压断路器电子元件可靠性分析
马世骁，林 莘，王 钰。石 飞
(1．沈阳建筑大学管理学院，辽宁沈阳110168；2．沈阳工业大学电气工程学院，辽宁沈阳110023；
3．辽宁省发展和改革委员会，辽宁沈阳110032)
摘 要：目的通过对真空断路器的电子元件可靠性研究，提出一种判断高压电器可靠性的方法，为评价和提高高压断路器的可靠性设计提供有效的途径，为i．~it-更高水平的高压电器提供理论支持．方法根据时间变量的现在状态及其变化趋势利用马尔可夫过程，预测在未来某一特定期间内可能出现的状态．结果对元件或系统达到平稳工作状态所需的时间以及平稳工作状态的概率大小进行计算；依据元件达到平稳
工作状态所需的时间来确定对元件进行可靠性筛选试验的时间，并通过实际应用加以验证．结论为高压电器运行可靠性的决策提供依据，在选择断路器电子元件时应综合考虑元件的故障率及维修率的大小，对于拓宽高压电器可靠性设计研究具有一定的借鉴意义．
关键词：断路器；电子元件；马尔可夫；可靠性;markov

近年来，随着高压电器的制造商和电力部门对高压电器可靠性认识的提高，作为电力系统中极为重要的保护控制设备的高压断路器，其可靠性研究逐步得到人们的重视．由于缺乏在高压电器可靠性方面系统的理论作指导，尚没有一种完整的方法对高压电器可靠性进行研究[卜引．目前对断路器可霏性的研究主要集中在机械可靠性方面，但电子元件的可靠性也是影响断路器可靠性的主要因素之一【6 】．笔者通过对真空断路器的电子元件可靠性进行研究，提出一种判断高压电器可靠性的方法，为评价和提高高压断路器的可靠性设计提供有效的途径，为设计更高水平的高压电器提供理论支持．