HALT（HighlyAcceleratedLifeTest）的全称是高加速寿命试验，是一种试验方法（思想），采用的环境应力比加速试验更加严酷。主要应用于产品开发阶段，它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来，从而为我们做设计改进，提升产品可靠性提供依据。
HASS（HighlyAcceleratedStressScreening）的全称是高加速应力筛选试验;制造工艺也是决定电子产品可靠性的一个重要因素，HASS试验就是专为清除生产制造过程中引入产品缺陷而设计的.
不是所有的产品都能通过HASS筛选过程受益的，毕竟HASS的实现和完成是非常昂贵的，并且经过设计、制造和HALT试验的产品其可靠性已经满足或超出要求了，所以实际生产过程中，应尽量减少HASS试验。一般在下列情况下可考虑利用HASS对产品进行筛选区：
- 产品本身是一个低可靠性的产品。
- 对于没有历史数据的新产品，又没有相近产品作为参考预计该产品的可靠性。
- 产品不同部件供应商变更需要验证器件性能。
- 复杂程度比较高的产品要求进行环境筛选以满足可靠性要求。
HASS试验剖面的选择主要依据HALT的试验结果以及产品性能测试所需要时间、产品试验过程中所施加的特殊应力和产品产量等等。一般HASS试验剖面图是由数个在两个极限温度之间的振动和温度等环境应力综合作用的循环周期构成的。剖面参数包括：上下限极限温度、端点温度滞留时间、温变率、振动量级、振动时间等构成。这些参数的选择一般参照下面的方法：
- 温度循环：端点温度取工作极限的80%，滞留时间取样品温度平衡和测试所需的时间
- 随机振动：振动量极限取工作极限的50%，如超过工作极限，则取工作极限的80%。
