关于活化能Ea的计算 可靠性技术 可靠性设计 08年4月21日 编辑 baoshanqin 取消关注 关注 私信 请问各位：活化能对于芯片级的可靠性测试来说，是怎么定出来的？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
ibmmaomao lv4lv4 11年4月15日 [b]回复[url=pid=19698&ptid=2923]2#[/url][i]Gary[/i][/b] 阿列纽斯方程===>温度是指产品的结温,还是锔炉的温度呢?
adminM可靠性网管理员 十年VIP会员lv6lv6 08年9月17日 [url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-691-3-1.html[/url] vince1981和我各上传了一个附件，关于EA的计算的，可以参考一下。 第26/27楼。 AcceleratedLifetest–v.rar(29.2KB)EaandAF.rar(24.99KB)
GR468只是提了一句，但并没有详细说明怎样设计试验计算Ea
标准中有定义做参考，但是如果想要准确还是要试验反推得出
学习了
这也是我最近比较困惑的地方，希望有高人解答~~~
学习了~
[b]回复[url=pid=19698&ptid=2923]2#[/url][i]Gary[/i][/b]
阿列纽斯方程===>温度是指产品的结温,还是锔炉的温度呢?
有些芯片廠將Ea設為0.7eV！
DoexperimentandcalculatedbyArr….mode
我也一直在找活化能的定義和算法,謝謝了!
非常感谢大家的热心解答！
[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-691-3-1.html[/url]
vince1981和我各上传了一个附件，关于EA的计算的，可以参考一下。
第26/27楼。
AcceleratedLifetest–v.rar(29.2KB)EaandAF.rar(24.99KB)
按照GR-468里面的是将产品分三组分别在三个温度下进行试验。。。然后来计算Ea
LZ可以参考JESD85和JEP122标准
当然楼上的第二种办法最好
1,直接用行业的经验Ea值
2,做多组实验,然后代入应力加速模型(譬如阿列纽斯方程…)算出Ea值