电子元器件及混合电路失效分析技术与案例”高级研修班

关于举办“电子元器件及混合电路失效分析技术与案例”高级研修班的邀请函

各有关单位：
为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，中国电子电器可靠性工程协决定在全国组织召开“电子元器件及混合电路失效分析与案例”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的失效机理、失效分析方法和纠正措施。具体事宜通知如下：
一、主办单位：中国电子电器可靠性工程协会；
二、承办单位：北京怀远文化传播中心；
三、培训时间、地点:
2天，深圳第八期2008年3月22-23日，3月21日报到；
四、培训费用：2600元/人（两天，含培训费、证书费、午餐费）。请在开班前传真报名或邮寄回执表。我们将在开班前2天内寄发《报到通知书》，告知详细地点及行车路线。
五、培训证书：中国电子电器可靠性工程协会培训证书；
六、课程对象：系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和失效分析工程师；
七、课程提纲：
第1章电子元器件失效模式与失效机理
1.1　失效与环境应力
1.2失效模式与失效机理
第2章失效分析和破坏性物理分析
2.1电子元器件失效分析的目的及作用
2.2失效分析工作的流程和通用原则
2.3失效分析报告
2.4电子元器件失效分析的程序
2.5破坏性物理分析的目的和试验项目、作用和与失效分析的关系
破坏性物理分析的方法和程序
破坏性物理分析案例
第3章　电子元器件的电极系统及封装的失效机理
3.1金属膜和金属化层的失效机理
3.2引线键合的失效机理
引线键合失效的分析技术
3.3芯片贴装失效机理
芯片粘接失效的分析技术
3.4腐蚀
3.5电子元器件封装的可靠性：封装的失效模式、金属封装的失效机理、塑料封装的失效机理、封装失效的分析技术
第4章　阻容元件、混合电路的失效模式和失效机理
4.1　电阻器的失效模式与失效机理
4.2　电位器的失效模式与失效机理
　电位器常见失效模式与失效机理分析
4.3　电容器的失效模式与失效机理
4.4薄厚膜元件及混合电路失效模式与失效机理
第5章继电器和连接器的失效机理分析
5.1接触元件的可靠性物理
5.2继电器、连接器和开关的失效模式与失效机理
5.3继电器与连接器的失效分析
第6章光电子元器件的可靠性
6.1激光器的可靠性
6.2高功率绿光固体激光器的寿命分析
6.3红外探测器、光子探测器、红外探测器的失效
6.5光电二极管的失效模式和失效机理
PIN光电二极管基本结构
光电二极管基本工艺及技术
光电二极管失效分析的常用程序和方法
光电二极管主要失效模式和失效机理
6.6光缆的失效模式和失效机理
光缆的工艺过程及技术
光缆的主要失效模式和失效机理
光缆的失效分析常用方法

八、师资介绍：
姚立真教授。中国电子电器可靠性工程协会特聘专家，在失效分析方面撰写的有关著作和教材有：《电子元器件可靠性物理》；《微电子器件失效的机理与分析技术》；《微电子器件高可靠工程保证技术》；《微电路美国军用标准汇编》等。在失效分析方面从事过科研领域有：“失效元器件和单片集成电路及混合集成电路的解剖和分析”；“单片及混合集成电路计算机辅助热学分析系统”；“集成电路抗辐射特性的计算机模拟和分析”；“电子元器件可靠性的计算机辅助分析与设计”等。承担过航天部一院及电子科技集团几个研究所失效分析方面的培训工作。连续3年在总装备部组织的军用电子元器件质量与可靠性人才培训中，教授电子元器件可靠性物理（失效分析）课程。
九、联系方式：
电话：010-8767003967699312
传真：010-87614798
E-MAIL：[email]tianyujdfh@yahoo.com.cn[/email]
联系人：田雨
中国电子电器可靠性工程协会
2008年1月18日

《电子元器件及混合电路失效分析技术与案例高级研修班》
回执表
报名单位名称（开发票）：
序 姓名 性别 职务 电话 传真 手机
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款
帐
号 户名：北京怀远文化传播中心
帐号：200601040006275
开户行：农行北京南三环支行 汇款方式 银行转帐□现金□网上汇款□
汇款日期 2008年月　日
是否住宿 是□否□
食宿标准 宿：280-300元/标间（费用自理）；食：午餐免费，其他费用自理。
备注：请注明欲参加班次（请在括号里打√）深圳〖〗
发件人：田雨（13146970844）电话：010-6769931287670039