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    阿伦尼斯方程板级激活能

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    • 可靠性试验
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      [i=s] 本帖最后由 chenbhu 于 2018-1-16 11:09 编辑 [/i]

      请教各位,针对板级电路,阿伦尼斯方程中的激活能有啥更好的方法得到吗?
      通过查资料得到:
      氧化膜破坏 0.3Ev
      离子性(SiO2中Na离子漂移) 1.0—1.4Ev
      离子性(Si-SiO2界面的慢陷阱) 1.0eV
      由于电迁移而断线 0.6eV
      铝腐蚀 0.6—0.9eV
      金属间化合物生长 0.5—0.7eV
      一般这些失效模式的激活能可以参考上述值。但是针对板级,上面器件较多,主要容阻、MOSFET、二极管、三极管这些组成,针对这样的板级电路,怎么确定激活能呢?
      参考论文,有利用多组高温试验数据,来进行曲线拟合,得到Ea,但是感觉这种方式更适合器件级的Ea确定,对于板级,不同器件组成,其每个样品在试验中的失效模式不同,用这种方法得到的Ea是否精度值得商榷呢,而且作为民品企业,在企业内只有一个高温箱的情况下,需要进行多组高温试验,去拟合Ea,不仅费时,还费钱,领导很难同意。有没有大神有过这方面的工程经验,大致确定一个比较适合的板级Ea的方法或者预估值。

      同求问

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