激活能Ea如何取值？(附微电子器件失效激活能快速评价法)

chenmanwen · 发表于 2009-4-14 14:44:11

我想做一个电源监控芯片的加速试验，要计算测试时间，但不知道Ea的取值，希望大家给予指导~不胜感激

18楼附:
微电子器件失效激活能快速评价法.pdf(398.84KB)

murenlijun · 发表于 2009-4-14 16:35:30

失效模式失效机理激活能（eV）
阈值电压漂移离子性（SiO2中的钠离子漂移） 1.0~1.4
阈值电压漂移离子性（Si－SiO2界面的低阻挡层）1.0
漏电流增加形成反型层（MOS器件） 0.8~1.4
漏电流增加隧道效应（二极管） 0.5
电流增益下降因水分加速离子移动 0.8
开路铝的腐蚀 0.6~0.9
开路铝的电迁移 0.6
短路氧化膜击穿0.3

sunjj · 发表于 2009-4-15 10:40:54

用于加速模拟寿命试验的Ea值，一般国际大厂使用0.7eV，也有保守的使用0.6eV。
这些数据可以在这些厂商的网站上取得，一般在〈质量和可靠性手册〉中。
这些数据的取得，当然要试验后取得，也可以直接引用。
关于你的案例（电源监控芯片），也可以要求芯片流片厂提供。

deadxiaoh · 发表于 2009-12-28 16:48:47

感谢SUNJJ！

weijia0219 · 发表于 2010-2-27 21:04:47

一般电子类产品我们公司的EA取值都取0.67eV.不知道有更加科学的取值方法没？谢谢

gwncc123 · 发表于 2010-5-3 21:36:27

不建议用参考值，还是要自己设计实验做出实验值的

阿華 · 发表于 2010-5-31 11:00:58

半導體會參考MIL-HDBK-217的0.43ev

dreampet · 发表于 2010-6-2 16:46:30

我们目前用0.7ev，等积累足够数据后再推算自己产品的ev

mars_liu · 发表于 2010-9-13 10:27:47

最准确就是先做实验知道产品的寿命,在用模型返回来求Ea

qiuxuyudy · 发表于 2010-10-7 10:59:06

有没有EA的相关选取的列表可以共享下

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