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元器件计数法可靠性预计工具(GB/T37963-2019)
这个工具实现了《GB/T37963-2019 电子设备可靠性预计模型及数据手册》中元器件计数法部分的可靠性预计内容（注意是元器件计数法，不是应力分析法哦，应力分析法是另外的工具）。元器件计数法可靠性预计 ，主要适用于产品设计早期，对产品寿命进行预估。相较于10多年前的GJB299C-2006而言，GB/T37963-2019失效数据库更新一些，更适合于对当前民用电子产品的可靠性预计。工具主要特点如…- 3.8k
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GJB299C标准的工程应用讨论
近期，针对可靠性知识共享学习会的会员们讨论的比较多的一个标准GJB299C，群主很有荣幸邀请其中一位比较熟悉的会员朋友鲁雪峰（鲁大师）进行了总结梳理，详细内容梳理汇总如下，在此再次非常感谢鲁大师的支持与共享，谢谢！GJB299C《电子设备可靠性预计手册》是与美军标MIL-HDBK-217相对应的国军标，截止目前已经更新了三个版本，最新一个版本是2006年发布的。该标准是建立元器件与电子设备可靠性信…- 5.3k
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元器件封装中的失效/可靠性问题
电子器件是一个非常复杂的系统，其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此，研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解，这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。封装的失效机理可以分为两类：过应力和磨损。过应力失效往往是瞬时的、灾难性的；磨损失效是长期的累积损坏，往往首先表示为性能退化，接着才是器件失效。失效的负载类型又可以分为机械、热、电气、辐射和化学负载等。影响封装缺陷和失效的因素是多种多…- 2.2k
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常用元器件的检测与调试
对于元器件检测这一项基本功来说，这是电源工程师再熟悉不过的，可以说如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。特别对初学者来说，熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要，以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。 电感器、变压器检测的方法 这里第一个我们来说明下色码电感器的…- 1.3k
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国内外军用电子元器件质量等级一览表
为了保证元器件的质量，我国制定了一系列的元器件标准。在上世纪70年代末期制定了“七专”7905技术协议和80年代初制定了“七专”8406技术协议，已具备了军用器件标准的雏形，但标准是在改革开放之前制定的，有很多局限性，很难与国际接轨。 从80年代开始，我国标准化部门参照了美国军用标准（MIL）体系建立了GJB体系，元器件的标准有规范、标准、指导性文件等三种形式。一、国内军用元器件质量分级…- 2.3k
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聊聊“七专”
一、背景从20 世纪70 年代开始，我国国防工业领导部门就采取措施，实施“七专”质量控制，来提高军用元器件的固有质量。“七专”元器件是在70 年代特定的历史条件下,为了满足我国航天事业对元器件可靠性要求，针对我国当时元器件技术落后，质量管理混乱而采取的一项质量控制措施。通过“七专”质量控制，元器件的可靠性水平提高了至少1个数量级，基本上满足了当时航天事业的需要。“七专”元器件是在特定的历史条件下采…- 22.4k
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电子元器件的分类与质量等级
元器件的可靠性由固有可靠性和使用可靠性组成。其中固有可靠性由元器件的生产单位在元器件的设计、工艺和原材料的选用等过程中的质量控制所决定，而使用可靠性则主要由元器件使用方对元器件的选择、采购、使用设计、静电防护和筛选等过程的质量控制所决定。大量的失效分析数据表明，由于固有缺陷导致的元器件失效与使用不当造成的元器件失效各占50%左右，因此，在保证元器件固有可靠性的同时，必须高度重视元器件的使用可靠性的…- 21.3k
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电路可靠性设计与元器件选型
比较普遍的一个现象是：研发人员无一例外的同声谴责采购和工艺部门，对元器件控制不严，致使电路板入检合格率低、到客户现场后频频出毛病。并举出了诸多文献实例和专家发言来佐证自己的论断，并希望我也能随声附和几句，可以借此给相关物料和制造部门施加一点压力，但最后我让他们失望了。我给下的结论无一例外都是怪到了研发的头上。并送给了研发弟兄们几个总结性观点：①在公司里，研发队伍已经足够…- 1.8k
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可靠性元器件降额设计_IC（1）
前面分享了电阻，电容，二极管，三极管的降额案例，今天和大家继续分享下电路中常用的直流电压转换芯片（DC-DC Converter)的案例。老方法，依旧以IPC 9592规范做为降额指导进行分析，截图如下：依旧采用ClassII等级，发现对于线性IC有四个降额参数需要考虑：1）输入电压；2）输出电压；3）输出电流；4）最大结温；举一颗电压转换IC IR3448MTRPBF示例如下，由如下第一第二张截…- 1.3k
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可靠性元器件降额设计_MOSFET降额设计
上篇分享了双极型三极管（Bipolar Junction Transistor）的降额案例，这篇继续分享下常用的场效应管（MOSFET）的降额分析，依旧采用IPC9592的降额规范，截图如下。 注意:发现IPC9592已经更新到了2012版本，之前用的一直是2007年的版本做的降额示例，今天开始更新下。 由图可知，降额要求如下： 1) 击穿电压VDS（Drain-Source Brea…- 1.8k
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可靠性元器件降额设计_三极管（1）
上篇分享了二极管的降额案例，这篇分享下常用常用的双极型三极管（Bipolar Junction Transistor）的降额案例，依旧采用IPC9592的降额规范，截图如下。 由图可知，降额要求如下： 1）功耗（Power)<75%; 2) 集电极-发射极电压（Collector-Emitter Voltage)<80%; 3) 发射极-基极电压（Emitter-Base …- 1.8k
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可靠性元器件降额设计_二极管1
接着上几篇的电阻，电容后，今天分享下二极管的降额案例。 依旧用IPC9592的标准进行分析，截图如下：二极管降额主要考虑下面几个方面：1）前向电流；2）反向电压；3）功率；4）最大结温； 举一颗肖特基二极管（BAT54C-E3-08）的例子如下，该二极管的Datasheet部分截图如下：从图中找出降额相关的额定值如下： 1）前向电流(Forward continuous current): 200…- 1.2k
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可靠性元器件降额设计_电容（3）
上一篇关于电容的文章分析了输出端的纹波电流的计算方法，这篇分享下输入端电容纹波电流的计算方法，同时将常用的电解电容降额设计也聊下，这样常用的电容篇就暂时分享这么多。 上篇得出输出端电感L上的纹波电流如下（再次解释）,参考如下截图的Buck电路： Inductor Ripple Current ΔIL=(Vin-Vout)*D/(fs*L)=(Vin-Vout)*(Vout/Vin/&e…- 1.4k
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可靠性元器件降额设计_电容（2）
前篇分享了普通MLCC电容(Multilayer Ceramic Capacitors)的降额案例，这篇文章和大家分享下IPC 9592里提及的固态钽电容（Fixed Solid Tantalum）的降额案例。 截取IPC 9592里的降额规范如下，依旧采用10年应力，发现对于固态钽电容有四个降额参数：1）DC电压；2）纹波电流；3）反向峰值电压；4）工作温度； 这里DC电压和工作温度相信通过前面…- 1.7k
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可靠性元器件降额设计_电容（1）
前两篇分享了常用电子元器件中的电阻的降额设计，主要分享了普通定值电阻和0欧姆电阻的两个案例，IPC9592里提到的其他几种电阻的降额参数基本都是电压，功率，温度，和普通定值电阻的降额类似，且最近自己在做的案子中未碰到，就不再罗列了。接下来分享另一个常用元器件----电容的案例。 今天先分享常用的普通陶瓷电容的降额案例，首先确定其降额标准，确定降额因子：DC电压，工作温度；采用10年应力参数，降额比…- 1.4k
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可靠性元器件降额设计_电阻（2）
上一篇分享了普通定值电阻的降额案例，这篇分享下0欧姆电阻的降额。 顾名思义，0欧姆电阻就是阻值非常小，趋近于0的电阻（当然不是绝对0欧姆，只是阻值非常小趋近于0），这里有人可能会有疑问，既然是趋近于0，也就是相当于一个导线，那干嘛要在电路设计中放入这颗电阻呢？ 关于这个问题，百度一下就能知道答案，大多数网页都能找到0欧姆电阻的12种用处，我就不再重复写了（水平有限，且对于百度罗列的12种用法，好几…- 1.2k
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从中兴的“灭顶之灾”谈起，谈谈中国电子元器件行业
体来说，中国军用电子元器件国产化率比较高，但还有20%左右需要进口，其中大部分通过特殊渠道是比较容易买得到的。但的确有些高端的产品难以买到，主要集中在高端DSP、高端AD/DA变换器等领域。作者：鼎盛微胖 来源：鼎盛军事最近中兴公司被美国政府禁售电子元器件，面临灭顶之灾，网上对我国的电子元器件行业的讨论突然多了起来，各种自媒体也批量制造大批文章，但是很多消息并不准确。我觉得我应该写点什…- 919
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元器件老炼试验
一、概念老炼也称“老化”，是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加一定的电应力，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程，促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。五、高温老炼注意事项1.各种元器件的电应力选择要适当，可以等于或稍高于额定条件，但应注意高于额定条件不能引入新的失效机理。例如，有些元器件负荷瞬时超过最大额定值时会立…- 1.9k
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电子元器件密封性试验
对于半导体器件来说，为保证其长期使用寿命和高的可靠性，必须确保器件具有较好的密封性，以抵御在使用环境中各种气体的侵入。例如，侵入管壳内部的湿气、盐雾以及其他沾污性的或腐蚀性的气体，随着时间的积累，都会造成器件在性能上的退化或形成潜在的失效，如：漏电的增大、放大系数的变化和击穿电压的降低等。在高空使用时，由于管壳内部气体的逃逸致使器件的导热性能减弱和电解质介电常数的变化而影响器件的使用，湿气等的渗入…- 765
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电子元器件恒定加速度试验
一、概念恒定加速度筛选就是用机械旋转产生离心加速度以获得恒加速度的一种试验，又被称为离心加速度试验或稳定加速度试验。其目的是通过该试验来确定电子元器件在离心加速度作用下的适应能力或评定其结构的牢靠性，以弥补做机械冲击和振动试验时可能未检出的有结构或机械类型缺陷的器件。二、试验方法电子元器件常用的恒加速试验方法有埋沙法和磁贴法两种。1.埋沙法埋沙法就是将元器件放入一个外形是立方体内腔为圆柱体的夹具内…- 931
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电子元器件机械冲击试验
产品在使用、装卸、运输过程中都会受到冲击。冲击的量值变化很大并具有复杂的性质。因此冲击和碰撞可靠性测试适用于确定机械的薄弱环节，考核产品结构的完整性。机械冲击试验又名：mechanical shock.一、目的与原理电子元器件的机械冲击试验主要是通过模拟元器件在运输、搬运和使用过程中遇到的各种不同程度的机械冲击来确定电子元器件受到机械冲击时的适应性或评定其结构的牢靠性。基本原理为当短时间内极大的冲…- 965
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电子元器件低气压试验
一、低气压环境在地球引力作用下，空气依附在地球周围，形成大气层，大气层从地面一直向上延伸到数百公里高空。地球的引力使空气具有一定重量形成大气压力，在某高度上的大气压力，是该点以上垂直于地面的单位面积上整个空气柱的重量。大气压是各向同性的，即在某一点上，不管在哪个方向上测量大气压都是相等的。大气压力的大小主要取决于海拔高度，随高度的增加，大气压力逐渐降低，大气逐渐变得稀薄。高度接近于5.5km处，大…- 957
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