ciae501 发表于 2010-7-9 21:52:00

求助如何通过短时间的试验来评估设备的寿命?

本人请求帮助，内容如下：
如何通过短时间的试验来评估设备的寿命？（比如说该设备的寿命我要求3年，要通过什么样的试验，做多长时间的试验？）

admin 发表于 2010-7-9 22:19:44

楼上兄弟,多次建议你,把标题设为内容相关的.怎么老是不长记性呢.

这样别人看到标题,才好看出是哪方面的问题啊.希望下次注意了.


你的问题是这样的,本来一个试验要好久的时间做下来,判定产品的寿命.但是呢,这么长的时间,显然不合实际.
所以就引出一个加速的概念,通过加速,时间就可以变短了.

关于加速的问题,可以看看http://www.kekaoxing.com/club/tag.php?name=Arrhenius这个加速模型关于AF的计算.

http://www.kekaoxing.com/club/forumdisplay.php?fid=3&filter=type&typeid=8

deadxiaoh 发表于 2010-7-10 11:39:51

设备的寿命、、、没接出过，LZ是做设备的？
我只做过一些驱动板的加速寿命测试、、、、

仁者无敌1987 发表于 2010-7-10 12:43:45

路过学习了谢谢

ciae501 发表于 2010-7-10 21:43:46

好多要学习

ciae501 发表于 2010-7-10 21:44:29

不知不觉100贴了

cyber 发表于 2010-7-12 08:33:30

专家级网友Bryan曾经写过一个帖子，楼主有兴趣可以看看。
“怎样才能最大幅度的缩短测试时间呢？”
http://www.reliaonline.com/bbs/dispbbs.asp?boardid=2&Id=3351
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