可靠性网's Archiver
可靠性论坛(旧)
›
可靠性试验
› 兄弟们,有没有比较好的方法,结合板际应用,可以快速实现芯片失效分析定位应用手段
longbb2008
发表于 2011-1-6 09:16:33
从应力分析和芯片的失效经验上来看,本人认为,排除芯片用时制造工艺上assemblies问题外,主要是应用环境和芯片本身带来的。概述如下:
1)应用环境Stress:工作电压、电流、功率;电突变;工作温升;工作环境温度;工作环境的震动;
2)芯片本身:一致性不好;封装问题;芯片微路蚀刻及内核打磨抛光问题;
aries
发表于 2011-1-6 22:39:13
不知道说啥
页:
1
[2]
查看完整版本:
兄弟们,有没有比较好的方法,结合板际应用,可以快速实现芯片失效分析定位应用手段