电子元器件（朔封器件）贮存可靠性？

chenzt_2002 发表于 2009-2-17 20:18:53

要做一个塑封器件贮存可靠性方面的课题，1年的时间，需要做些加速贮存方面的试验，可现在还没有一点头绪呢。不知各位同仁有没有相关方面的技术资料，非常感谢。

txz06 发表于 2009-2-17 20:26:23

做课题的话，我建议你去EI查一些国外发表过的paper.
毕竟是课题，怎么这是学术啊！
标准之类的，太工程了，对你发表论文没啥帮助的。
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txz06 发表于 2009-2-17 20:48:42

电子元器件储存可靠性案例（1）

摘要:基于电子元件寿命试验的二项型数据信息，提出了电子元件贮存可靠性评估与预测
的贝叶斯方法。利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合，依
据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据“数据倒挂”进行预处理，并评估出其在各已知
贮存时间点上的可靠度，再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布，进而对其贮存可靠度
进行合理预测。最后，通过一个实例说明了方法的可行性。

[本帖最后由txz06于2009-2-1720:51编辑]

txz06 发表于 2009-2-17 20:50:22

电子元器件储存可靠性案例（2）

电子元器件的贮存可靠性及评价技术

[本帖最后由txz06于2009-2-1720:51编辑]

txz06 发表于 2009-2-17 20:51:25

电子元器件储存可靠性案例（3）

贮存_使用可靠性模型估计问题的研究

txz06 发表于 2009-2-17 20:52:52

电子元器件储存可靠性案例（4）

具有初始失效的电子产品的加速贮存可靠性预测模型

hukee 发表于 2009-2-17 20:53:25

塑封的，潮湿比较敏感，用MSD吧。

txz06 发表于 2009-2-17 20:53:58

电子元器件储存可靠性案例（5）

可靠性评估领域中环境因子的研究进展

wqpye 发表于 2009-3-5 12:30:12

TXZ06了不起，提供了这么多有用的资料。谢谢！

1234567cui 发表于 2009-3-12 07:53:22

可惜啊，看不到的，不知道是什么内容啊，只能等啊

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