请教二极管失效和寿命考核问题
一个二极管反向击穿电流为100A，设计寿命20年，一年累计工作100次，每次工作时间2小时，请问这样的二极管的怎么进行加速失效考核？是否可以用100A连续工作4000小时来进行考核？二极管的加速寿命试验
二极管的加速寿命试验加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件
或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。
通过加速寿命试验可达到以下目的：
（1）、在较短时间里，对高可靠元器件的可靠性水平进行评估，可用外推法快速预测在
规定条件下的失效率；
（2）、在较短时间内，对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估；
（3）、在较短时间内，加速暴露元器件失效模式和机理，从而可正确地制定失效判据和
筛选条件。
必须指出，元器件的电气规格参数指标与其性能稳定可靠是不同的概念，两者之间并没
有直接的联系。规格参数良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，规格参数差一些的元
器件，其可靠性也不一定低。电子元器件的大部分规格参数都可以通过仪表立即测量出来，
但是它们的可靠性和稳定性却必须通过各种可靠性试验，或者大量（或长期）的使用之后才
能判断出来。
电子元器件的失效率数据，可以通过对它的可靠性试验求得：
λ＝失效率＝失效数÷（试验器件的总数×运用时间）
失效率的常用单位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百万个元器件运用1000h有1个失效，就
叫做1Fit。失效率越低，说明元器件的可靠性越高。
激光二极管寿命测试方法研究
摘 要:文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模
型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD的平均输出光
功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工
作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的
使用寿命
硅稳压二极管的高温贮存加速寿命试验及失效分析
硅稳压二极管的高温贮存加速寿命试验及失效分析这篇文章很长，够你看好长一阵子。
GaAs红外发光二极管加速寿命试验
GaAs红外发光二极管加速寿命试验哥们，好好看一下吧！
激光二极管的筛选和寿命评价
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原帖由txz06于2009-1-701:33发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif激光二极管的筛选和寿命评价
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这个论坛怎么上传,下栽资料都受限制,严重打击大家的积极性,郁闷!
回复 8楼 lily1106 的帖子
哪个网站都会有所限制的，毕竟网络资源还没到无限的时候啊。。 非常感谢txz06，谢谢提供这些文章与大家分享。
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