wolf9512 发表于 2008-8-8 10:52:12

请教关于MTBF的问题

我想通过实验计算某电子产品的MTBF值，请问需要进行什么实验？实验应遵循哪些标准？请各位高手帮忙回答，或推荐一些资料，小弟刚接触可靠性，很多不懂，谢谢！！:P

jackabc 发表于 2008-8-8 11:10:30

規范你可以參考MIL－HDBK－217或　Telcordia

echely_lin 发表于 2008-8-8 15:52:23

我们公司测试MTBF是在温度:40度,湿度:85%的环境下加温,根据该环境与用户使用环境的差异算出加速因子,在去算MTBF

cliffcrag 发表于 2008-8-11 16:57:08

原帖由苏州检测机构于2008-8-1114:21发表
这个问题很简单,我们是专门做检测的,需要资料的话给我电话或者邮件13771850837wapp10000@126.com

我们不欢迎广告，只欢迎技术类的交流讨论。

如果楼上朋友觉得问题很简单，可以发表你的观点。

wolf9512 发表于 2008-8-12 20:04:04

还是不太清楚，希望有高手细心解答，呵呵！

yeh 发表于 2008-8-31 12:39:44

ReliabilityDemonstrationMethods
Whendemonstratingthereliabilityofaproduct,theexactfailuretimecanneverbeknow.Notwithstandingthisfact,wearerequiredtohypothesizeregardingourconfidenceintheintegrityofournumbers.TheChi2distributionisoftenusedinthiscasebecauseitisaprobabilitydistributionthatrelatestheobservedtotheexpectedvalues.
TherelationshipbetweenfailurerateandtheChi2distributionisasfollows:
lamda=X^2(Alpha,Bate)/2*time*Af
Where
alpha=((100–CL)/100CL(ConfidenceLevel)=60%,90%.
Bate=Degreesoffreedom=2*numberoffailures+2
Af=Accelerationfactor,asdeterminedbyoneofthemethodsdiscussedearlier
Whenestimatingfailurerates,Vicorusesaccelerationfactorstodetermineusefailure
ratesbasedonlabfailurerates.

AcceleratedLifeTesting
Theequationbelowisusedtomodelaccelerationduetotemperatureandisreferredtoas
theArrheniusequation.TheArrheniusequationrelateshowincreasedtemperature
acceleratestheageofaproductascomparedtoitsnormaloperatingtemperature.
Af=e^{(Ea/k)*(1/Tu-1/Tt)}
Af=accelerationfactor
Ea=activationenergyinelectron-volts(eV)
k=Boltzmann’sconstant(k=8.617x10-5eV/Tk)
Tk=Kelvin
Tu=referencejunctiontemperature,indegreesKelvin(K=C+273)
Tt=junctiontemperatureduringtest,indegreesKelvin
e=2.71828(baseofthenaturallogarithms)

MTBF=1/lamda

jamesstudy001 发表于 2012-6-26 15:38:44

規范你可以參考MIL－HDBK－217或　Telcordia

jamesstudy001 发表于 2012-6-26 15:50:14

規范你可以參考MIL－HDBK－217或　Telcordia
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