lmffzk 发表于 2008-3-26 21:29:37

Flip chip 产品可靠性测试可以做哪些项目？

RF产品（flipchip工艺）若要做可靠性测试，需要或者说可以做哪些项目啊？

Gary 发表于 2008-3-26 21:50:14

个人建议做这些项目，供参考。
dieshear
mechanicalshock,sinevibration
TC
HTaging
X-rayinspection
Cross-section

lmffzk 发表于 2008-3-26 22:03:51

回复 2# 的帖子

先谢谢兄台。芯片推力,X-Ray等会由PE去做,pre-con,SAT等可靠性测试也会做。其实现在真正困扰我的是，耐久度测试项目的选取，比如TCT,HTSL,THB/PCT/HSLT等，究竟哪些可以做,因为我还没找到相关标准，很难说服客户啊！这方面版主及各位大侠能否提供点意见或资料，不胜感激！

Gary 发表于 2008-3-27 09:41:09

TCT,HTSL,THB/PCT/HSLT这些是什么实验的缩写呀?

sunjj 发表于 2008-3-27 11:52:19

TCT(TemperatureCyclingTest)温度循环测试
HTSL(HighTemperatureStorageLifeTest)高温储存寿命测试
THB(TemperatureHumidityBiasTest)温湿度偏压测试
PCT(PressureCookerTest)压力锅测试
HTOL(HighTemperatureOperatingLifeTest)高温操作寿命测试

Gary 发表于 2008-3-27 12:37:03

原帖由sunjj于2008-3-2711:52发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
TCT(TemperatureCyclingTest)温度循环测试
HTSL(HighTemperatureStorageLifeTest)高温储存寿命测试
THB(TemperatureHumidityBiasTest)温湿度偏压测试
PCT(PressureCookerTest)压力锅测试
HTOL(HighT...


谢谢,长见识了.
这些实验应该是参考JEDEC或者JESD类的标准吧

lmffzk 发表于 2008-3-30 18:00:45

现在一般的产品的确可以参照JESD标准，可是我不敢确定Flipchip产品是否适用这些，因为没有那份标准明确定义说F/C可以用TCT,HTSL,THB/PCT/HSLT，各位大侠可有相关资料？不胜感激！
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