锦上添花 发表于 2008-1-19 21:15:23

關於壽命測試

大家覺得在ORT測試時有必要加上壽命測試這一項嗎？因為最近我司有一款機種，每出貨20K就要做一次ORT測試。但根據QE編寫的三階文件中有一項插拔5000次，我們實驗室也沒相匹配的治具，要手工進行。很費時間，或許貨都出去了，試驗都還沒完成呢。所以最近我們在ORT時很少做此項了。我也記得此款機種早在研發階段就做過此項壽命測試，也是PASS的。所以大家覺得ORT實驗時還有必要做相類似的壽命測試嗎？

fanweipin 发表于 2008-1-20 12:03:20

肯定要做的，什么是ORT？即On-goingreliabilitytest,与研发阶段测试结果相关性不是很大，其主要是检验制程上出现的早期失效。

Aries 发表于 2008-1-21 09:37:29

大家公司产品出货是在的ORT测试结束之前还是之后是呢？

imm 发表于 2008-1-21 09:41:51

ORT 试验

ORT一般是正常快要出货的产品（在出货区）抽出来做的试验吧。

cc20061212 发表于 2008-1-24 15:06:59

是啊，ort试验是随机抽取不同时间不同批次的成品来测试，以检验一段时间的产品可靠性水平，一般和出货关系不大吧，除非是出现重大实效

superparp 发表于 2008-3-20 23:25:21

我觉得不需要，因为早在设计研发阶段应该就有做过了，没有必要投入资源，不过针对有问题的厂商或退货的问题，可能还是要加做，但有仅仅限于特例，我想你们QE可能是菜鸟吧！？

Gary 发表于 2008-3-21 08:48:49

制程过程中出现的早期失效(infantfailure)，产线上的老化(burnin)工序是可以筛选出来．　
ORT主要还是起productreliabilitymonitor作用，重在monitor，　需要随机从出货仓抽选样品来做实验，　在出货的同时，客户不会要求马上就给这批货的可靠性报告的，客房注重的是你们公司有没有ＯＲＴ这项流程和意识，做了哪些实验与抽样频率．所以你大可不必要求出货的时候，就把所有的ＯＲＴ实验都做完．　
另外，需不需要做ＨＴＯ（HighTemperatureOperation)实验，需要根据产品的溥弱点和历史情况来决定．　假若你的产品对ＨＴＯ实验特别敏感，很容易在这个实验中出现失效，在研发阶段也为通过该实验做过很多工作，那做ＨＴＯ实验就很有必要啦．做ＨＴＯ实验还有一个好处就是以后计算ＦＩＴ理论值的时候，可以用得上ＨＴＯ测试数据．　

h9z9y9 发表于 2008-3-25 20:50:38

受教了，各位继续讨论，看看还有什么好的观点。:)
我们公司目前只做了制程老化实验，出货前老化一下，没有问题就出货。

锦上添花 发表于 2008-3-26 21:55:05

ＦＩＴ是怎么计算出来的？

jiji 发表于 2008-4-13 22:34:12

ORT一都是量产以后做的试验，持续可靠度测试吗，哈哈
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