yingzhiyi3 发表于 2017-6-22 14:37:44

关于IP试验的一个问题

IPXX试验一般是按照IEC 60529标准来执行的，一直以来对其中一点有些疑惑，求专家帮忙解答下。
如果产品IP4X试验的话，根据标准，则意味着直接大于1mm直径的试验金属线不得进入外壳。
IP5X则是有更高的要求，除了要满足IP4X的要求外，还需要满足防尘的要求。
我的问题是，手机行业一般都是直接做IP5X来看防尘效果的，但是手机上一般都会有一些USB口，耳机口，或者可拆卸电池盖，这些口的直接一般都大于1mm了。那岂不是手机都没办法满足IP4X的标准了，那为什么大家都可以直接跳过IP4X来直接做IP5X的试验的？
有一个矛盾的地方是，明明手机都可以满足IP5X的标准，但是因为有这些缝隙或开口的存在，还无法满足IP3X或IP4X的要求？
不知道大家没有看明白我的疑惑。。。

jindiao167 发表于 2017-6-27 17:19:10

USB和耳机口属于外壳吧？他跟里面的电路板之间没有缝隙的。就是说就算U口有灰，也不会进入到手机内部。我是这样理解。至于手机电池壳的缝隙，必须要满足IP5X，否则灰就直接进入到PCB板了。

ayfirefox 发表于 2017-7-3 09:07:59

学习

cangyue183 发表于 2017-7-18 16:54:37

IP5X应该是内部允许有灰尘，但是不会影响其功能，同时其安全级别大于IP3X IP4X

huangdongcan 发表于 2017-7-26 14:40:33

:):)
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