偶然失效期对应于浴盆曲线的底部(中间近乎平坦的曲线部分),整个浴盆曲线描述了产品三类失效阶段的失效密度函数(失效率的变化率)的轨迹。
对于电子产品,其浴盆底部近乎平直,是因为此阶段失效率的变化率为常值,这是推导实效率的指数函数表达式时的一个基本假设。
对于初期失效期,常用对数正态函数,磨损失效期常用伟伯分布。而伟伯分布号称变形虫,通过自身参数设置,可演化为正态函数等形式。
以上在本论坛很多可靠性理论教程中都有详细解说,不妨耐心一读。
还行各位兄弟多多指正。 路过顺道学习下 我的理解是用威布尔分布通过参数的选择可以描述出产品的寿命分布,参数应该是需要通过试验得出的实验结果来确定 收集失效数据,然后用线性拟合;这只是对阿列纽斯线性关系式起作用;
对于Coffin-Manson的指数关系就不知道怎么拟合了!不知道有没有谁在温度循环试验或冷热冲击试验上有心得的能共享下经验? 才学这方面的知识,觉得还是根据数据分析出的结果进行定断用什么分布,每个分布的使用范围没用太多的界限
,例如指数分布就是威布尔分布的一种特例 回复1#geforceee
在minitab中有11种分布状况:最小极值、Weibull(默认选项)、3参数Weibull、指数、2参数指数、正态、对数正态、3参数对数正态、Logistic、对数Logistic或3参数对数Logistic。
可以使用所有分布先对失效数据作个评估,找出相关度最高的分布即可 回复1#geforceee
在minitab中有11种分布状况:最小极值、Weibull(默认选项)、3参数Weibull、指数、2参数指数、正态、对数正态、3参数对数正态、Logistic、对数Logistic或3参数对数Logistic。
可以使用所有分布先对失效数据作个评估,找出相关度最高的分布即可 楼上正解 好文章,顶一顶
页:
1
[2]