masize 发表于 2008-4-28 16:44:33

"跌落高度为76cm，一角三棱试验破坏后，再对六个面进行硬盘的G值量测"

請問#6:這個g值是怎麼測出來的.

山洲水库 发表于 2008-6-30 10:36:51

量测过承受的能量值吗？
另外，请教一下，都是怎样夹持的啊？

masize 发表于 2008-6-30 13:23:32

我們公司現在做DROP試驗,不是針對包材,而是針對產品本身,
制定一個高度,掉3次,再檢測電氣性能是否OK,
請問這樣做是否合理?

beacherdon 发表于 2008-7-3 13:51:54

回复 11# 的帖子

G值是可以测试的，一般而言在测试机台上粘贴感应器即可！我们使用TP3软件抓取的。

beacherdon 发表于 2008-7-3 13:55:44

回复 12# 的帖子

包材测G值时，感应器粘贴位置一般是有机构人员定义。DROP测试，不要求夹具，自由跌落即可。

twtitx 发表于 2008-8-5 05:50:46

谢谢各位老大的指点，目前因为实验产品是工业电脑，产品在24Kg左右，跌落高度为76cm，一角三棱试验破坏后，再对六个面进行硬盘的G值量测，要求六个面的G值不能＞65G，在这前提下，超过则算Fail，若低于65G，再对产品进行判断，如果没有包材问题，再对产品进行通电开机，若能正常开机，进入系统，则判定为Pass，不知是否合理。
按照公司内定测试方式为：
包装件质量kg跌落高度mm
<=15　　　　　　1000（加严）
15~30　　　　　　760
30~40　　　　　　600
40~45　　　　　　500
45~50　　　　　　400
>50　　　　　　300



针对硬盘的G值想要在65G以下，主要还是在于Carton和里面的EPE&EPS，你要看DROP时想对的频率，如果是在高频的话从SRS来讲的话就把Carton和里面的EPE&EPS改软，相反就改硬。

xuzongde 发表于 2008-8-6 10:26:16

感谢楼主!!!!!!!!
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查看完整版本: 请教一个最常用的落下试验方法！