Indrea 发表于 2016-2-16 15:39:03

@北京-diec缺陷分为设计缺陷和制造缺陷,你怀疑这个案例更可能是哪种?

diec 发表于 2016-2-16 15:39:44

像这种成熟产品,我感觉制造缺陷可能性更大

Indrea 发表于 2016-2-16 15:40:33

恩,赞同你的解释。

yyy789 发表于 2016-2-16 15:42:32

制造缺陷是指?

yyy789 发表于 2016-2-16 15:42:49

MOS没焊接好?

diec 发表于 2016-2-16 15:47:21

你要先说一下失效模式是什么

diec 发表于 2016-2-16 15:47:46

然后展开FTA

阿牛 发表于 2016-2-16 15:48:29

其实MOS产品本身就和制造密不可分,很多是抄袭主要是看关键工艺管控

diec 发表于 2016-2-16 15:49:09

温循条件没问题的话,就要看内部连接处有没有问题了

阿牛 发表于 2016-2-16 15:49:12

没有失效现象描述和基本的电性分析很难猜的
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查看完整版本: 温度循坏掉的一般是什么原因?