Ankeng 发表于 2016-4-20 10:24:55

为什么下载不了?

zhangjin2310023 发表于 2016-6-18 11:51:42

下下来看看

liuhao185 发表于 2017-4-28 23:13:03

先学习一下!

yeh 发表于 2017-4-29 07:04:08

预期寿命能合理地认为是服从指数分布的单批产品的失效率试验也可适用。

Bluflower 发表于 2017-6-26 19:37:59

谢谢楼主

若扬路尘 发表于 2017-11-15 16:59:25

谢谢楼主

所以。幸福 发表于 2018-4-3 10:49:50

多谢,下来看看

willam000000 发表于 2018-8-18 15:27:51

79年的资料,是比较少见,看看

杨丹尼 发表于 2018-9-7 11:14:45

收了喔:loveliness:
页: 1 2 3 4 5 [6]
查看完整版本: GB 1772-79 电子元器件失效率试验方法