求助：85 /85实验标准？

dby_yan 发表于 2007-8-8 23:25:45

向各位求助：一个85/85实验的标准
JEDECStandardNo.22-A101-B
有没有大侠对85/85实验熟悉的？可不可以帮助一下我，我就是弄不明白！
在可靠性领域里：dietemperature、bias是什么意思？？

angel8679 发表于 2007-8-9 10:00:01

这个标准不是很熟悉，主要是半导体器件的可靠性测试，我传上来让大家共同讨论一下吧

dby_yan 发表于 2007-8-9 22:27:11

标准里面总是提到bias，在这里面，这个bias应该译成什么呢？是偏压吗？还是？
真是头都大了:Q，一般的85/85实验都只是提到温度和湿度，这一个多了bias这一项！
不知道85/85实验还有其他的标准吗？

angel8679 发表于 2007-8-15 17:57:56

这个bias是变压吧，我看了一下大概内容，这个优点像做IC的试验标准，dietemp失效分析理解为空洞温度

vince1981 发表于 2007-8-15 19:12:12

dietemp应该是芯片里晶圆的温度，结温有时候就用来表示这个温度。

keke 发表于 2008-6-20 10:55:11

BIAS应该是负载吧！

有些可靠性试验，特别是电路方面产品，实验时需要加一定电压负载的。

aoxue_kill 发表于 2008-7-9 22:35:33

BIAS一般翻译为偏压，有恒定偏压和循环偏压两种，加载需要专门的治具！
DieTemp应该是指产品表面所在位置的温度，因为环境测试箱体内部温度实际并不全部一致！

yeh 发表于 2008-9-3 13:56:27

BIAS翻譯為偏壓:意思是測試時sample要施加Vcc電壓,例如sample標準偏壓為Vcc3.3試驗時就要施加3.3Vdc的電壓.
Dietemp指的是IC內部Die的溫度一般需要使用紅外線溫度感測儀來測試.
Tj指的是IC封裝表面溫度
Ta指的是IC所在位置的周圍溫度

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